一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
测试面积是测厚仪器的一项很重要的参数，主要由准直器控制组成，但也受其它条件限制：
1、受高压、光管限制，因为需
光谱测厚仪
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
测试面积是测厚仪器的一项很重要的参数，主要由准直器控制组成，但也受其它条件限制：
1、受高压、光管限制，因为需要这两装置提供足够荧光强度和聚焦。
2、受仪器结构限制，相同的准直器因安装的位置及与探测器的角度都影响测量面积，同样是直径0.2mm准直器Thick800A测量面积达到直径0.4mm，EDX1800B测量面积达到直径0.5mm，CMI900测量面积达到0.3mm,而XTU-A面积可以达到0.218.
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
的技术，的团队，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。
一六仪器、一liu!各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系！
镀层是通过电镀在机械制品上沉积出附着良好的，但性能和基体材料不同的金属覆层。
电镀层一般都比较薄，从几十纳米到几十微米不等。通过电镀，可以再机械制品上获得装饰保护性和各种功能性的表面层，还可以修复磨损和加工失误的工件，镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题薄膜是指在基板的垂直方向上所堆积的1～104的原子层或分子层。金属镀层通常按镀层的用途可把镀层分为三大类，即防护性镀层，防护一装饰性镀层和功能性镀层。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。
测厚范围可测定厚度范围:取决于用户的具体应用。将列表可测定的厚度范围-基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。根据客户本身应用提供必要的校正用标准样品。样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围:Ti22–U92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正组成分析时，可同时测定15种元素多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析-调整和校正功能系统自动调整和校正功能:校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移谱峰计数时，峰漂移自动校正功能谱峰死时间自动校正功能谱峰脉冲堆积自动剔除功能标准样品和实测样品间，密度校正功能谱峰重叠剥离和峰形拟合计算-测量自动化功能(要求XY程控机构)鼠标控制测量模式:'PointandShoot'多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能-样品台程控功能(要求XY程控机构)设定测量点OneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile测量位置预览
江苏一六仪器有限公司 镀层测厚检测 欢迎来电详询！
X射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都很高，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上点击一下即可定位。是目前应用为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。
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