头部集成了薄膜厚度测量所需功能
通过显微光谱法测量高i精度绝i对反射率（多层膜厚度，光学常数）
1点1秒高速测量
显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）
区域传感器的安全机制
易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析
独立测量头对应各种inline客制化需求
支持各种自定义
测量
OPTM膜厚仪
头部集成了薄膜厚度测量所需功能
通过显微光谱法测量高
i精度绝
i对反射率（多层膜厚度，光学常数）
1点1秒高速测量
显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）
区域传感器的安全机制
易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析
独立测量头对应各种inline客制化需求
支持各种自定义
测量项目：
绝
i对反射率测量
多层膜解析
光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
使用显微光谱法在微小区域内通过绝
i对反射率进行测量，可进行高
i精度膜厚度/光学常数分析。
可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件
为了确保膜厚仪的安全操作，必须注意以下几点： ·始终按照操作手册的要求操作膜厚仪； ·不要损坏安全互锁系统的任何元件，例如微动开关等等； ·不要对膜厚仪做任何改变。
如果膜厚测试仪已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内；根据统计学的观点，一次读数是不可靠的。因此任何由膜厚测试仪显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的。
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