江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪
下照式设计：可以方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
接收：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨：精准定位样品。
镀层测厚仪
江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪
下照式设计：可以方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
接收：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨：精准定位样品。
EFP算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X射线荧光光谱测厚仪原理
一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。可靠性高：由于测试过程无人为干扰因素，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T16921-2005标准（等同ISO3497：2000、ASTMB568和DIN50987）。 K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中 任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。
X荧光镀层测厚仪金属成分含量的测定
在包含某种元素1的样品中，照射一次X射线，就会产生元素1的荧光X射线，不过这个时候的荧光X射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多，荧光X射线的强度就会变强。注意到这一点，如果预先知道已知浓度样品的荧光X射线强度，就可以推算出样品中元素1的含量。采用定量分析的时候，可以在样品中加入高纯度的二氧化硅，作为参比样，并且掺量是已知的。利用XRF无损分析技术检测镀层厚度的仪器就叫X射线测厚仪，又膜厚测试仪，镀层检测仪，XRF测厚仪，PCB镀层测厚仪，金属镀层测厚仪等。这样可以间接知道其他组分的含量。
江苏一六仪器一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。科学仪器在我国科技发展中起到的重要作用是不容忽视的，希望未来能够看到更多拔萃的科学仪器为我国科技发展做出贡献。
x射线荧光膜厚测厚仪还应用于五金电镀厚度检测，首饰电镀厚度检测，电子连接件表层厚度检测，电镀液含量分析。电力行业高压开关柜用铜镀银件厚度检测，铜镀锡件厚度检测，航空材料金属镀层厚度检测。铜箔镀层厚度检测，光伏行业焊带铜镀锡铅合金厚度检测，铁镀铬 镀锌 镀镍厚度检测等。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚，PCB线路板的镀银厚度分析。
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