牛津仪器工业分析部（Oxford Instruments IndustrialAnalysis）牛津仪器工业分析部提供多系列分析工具满足各个行业严格的质量控制要求。凭借30多年的XRF技术经验，牛津仪器的分析系统可以实现各种材料（固体、液体、粉末、糊状物、油脂、薄膜等）中元素组成的、无损检测，同时也可实现样品表面涂镀层厚度或组成分析。X-MET手持式XRF分析仪和移动式
火花直读光谱仪的使用
牛津仪器工业分析部（Oxford Instruments IndustrialAnalysis）牛津仪器工业分析部提供多系列分析工具满足各个行业严格的质量控制要求。凭借30多年的XRF技术经验，牛津仪器的分析系统可以实现各种材料（固体、液体、粉末、糊状物、油脂、薄膜等）中元素组成的、无损检测，同时也可实现样品表面涂镀层厚度或组成分析。X-MET手持式XRF分析仪和移动式直读光谱仪OES是对现场合金分类及PMI测试、ROHS中有害元素的检测、质量控制尤为重要的工具。我们的OES设备包括：ARC-MET、FOUNDRY-MASTER、FOUNDRY-MASTER COMPACT、PMI-MASTER PRO、PMI-MASTER SORT、TESTMASTER。Lab-X、Twin-X、ED2000及MDX1000各种XRF光谱仪应用于各种不同领域产品的日常分析，如石油产品的硫含量的分析、水泥中钙含量的分析。我们能提供多款性能可靠的光谱仪供您选择以满足您的分析需求。
适合分析材料：黑色金属、有色属、稀土金属无机物、矿石、陶瓷等物质
应用领域：冶金、机械、商检、科研、化工等行业中
特点：准确、、灵敏度高的特点
高低碳硫含量均使用技术指标：（1）测量范围:0.1g~0.5g碳Carbon0.00002%~15%(上限可扩展至)硫Sulfur0.00002%~5%（2）小读数:0.00001%（3）仪器精度:碳1ppm或RSD￡0.5%硫1ppm或RSD￡1.0%（4）分析时间:20-40秒（5）电子天平称量范围:0.001g~100g 次数用完API KEY 超过次数限制
直读光谱仪仪器的校准应先由硬件开始，然后才是软件。直读光谱仪的校准手段如下:描迹是对光谱仪的光学系统进行的校准。这是校准的首要前提。
在此条件下可进行如下校准:标准化即再校准工作曲线，然后可用到的校准方法有:(1)、修改持久工作曲线法(修改标准化参数)(2)、控样法;(3)、类型标准化法。(1)机械校准(2)光学校准(3)电气校准(4)软件校准我觉得校准应该是包括硬件校准和软件校准。
直读光谱仪直读光谱仪器硬件包括狭缝校准、入射窗口清洁、负高压系统、光电转换等。这是仪器正常工作的先觉条件。软件包括:完全标准化，类型标准化(控样校准)等。完全标准化是用于校正仪器的漂移而引起的工作曲线的变化。而控样校准可以修正样品冶炼方式与工作曲线(即与做工作曲线的标样的冶炼方式的差异)。 次数用完API KEY 超过次数限制
直读光谱仪可用于铸造、锻造、机械配件、装备制造、质检、高校教学培训等领域。
在直读光谱仪分析过程中，采用高稳定的激发光源,激发频率在150—500Hz之间变化,分析不同的样品,可选择不同的激发参数,可达到佳的分析效果。
直读光谱仪中有关第三元素影响的问题
谱线干扰:由于试样组分复杂，所选元素的分析线直接受试样中其它组分发射谱线的影响，这种影响又称为光谱干扰。基体。简单的说，样品中除了少量存在的待测物之外，还有大量的其他物质，这就是基体。基体效应。实验证明，当被测元素的浓度一定时，分析元素谱线的绝强度及相对强度值不仅决定于蒸发、激发等摄谱条件，而且与试样总组成有关。试样总组成对谱线强度的影响称为第三元素的影响。第三元素是指除了内标和分析元素以外而存在于试样中的元素，这种影响有时称为基体效应。 次数用完API KEY 超过次数限制
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