IR-2双波段发射率测试仪仪器特点
1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。
2．采用了的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。
3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射
红外热发射率仪报价
IR-2双波段发射率测试仪仪器特点
1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。
2．采用了的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。
3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。
4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。
5．本仪器操作简单、使用方便、测量。
6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。
7．在测量过程中不损伤被测样品。
8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。
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波长分布规律
实际物体的辐射能的波长分布规律，随物体和温度而异。东方圆通生产、销售热发射率仪，我们为您分析该产品的以上信息。设实际物体辐射任一波λ的辐射能力为Eλ，在同温度下的黑体辐射相同波长的能力为E0λ；若Eλ/E0λ=常数,即物体的辐射能力与波长无关,则这种物体称为灰体。大多数工程材料在热辐射波长范围内接近于灰体。灰体的辐射能力E可表示为：。式中C(
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热发射率仪简介
发射率测定仪，应用范围广泛,可在数秒钟内确测定物体表面热发射率，实为测量发射率进行有效质量控制的理想设备。
可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量，该设备自成一体，包含全部操作和电子元件，可测量和处理传感器信号和显示数据，以及控制黑体温度。
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热发射率仪——原理介绍
新型发射率测量仪是采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率的。在同样的温度下，各种不同物体对相同波长的单色辐射出射度与单色吸收比之比值都相等，并等于该温度下黑体对同一波长的单色辐射出射度。它能测量常温样品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三个波段的发射率。当有特殊需要时，它可通过的控温装置在-100℃~600℃任何温度范围内加热或冷却样品，从而对样品进行发射率变温测量。
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