IR-2双波段发射率测试仪仪器特点
1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。
2．采用了的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。
3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射
红外热发射率仪厂家
IR-2双波段发射率测试仪仪器特点
1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。
2．采用了的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。
3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。
4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。
5．本仪器操作简单、使用方便、测量。
6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。
7．在测量过程中不损伤被测样品。
8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。
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辐射能力和吸收能力
理论研究证明，黑体的辐射能力E0为：E0=σ·Tˇ4此式称为斯忒藩－波耳兹曼定律。式中T为绝1对温度；σ0为黑体的辐射常数（或称斯忒藩-波耳兹曼常数）,其值为5.669×10-8 W/(m2·K4)。为应用方便,此式可改写为：式中C0为黑体的辐射系数,其值为5.669W/(m2·K4)。电源：交流220V50HZ想了解更多关于热发射率仪的相关资讯，请持续关注本公司。此式表明，温度对热辐射的影响极大。低温时热辐射常可忽略（如普通换热器中）；高温时（如炉膛内），则成为传热的主要方式。
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热发射率仪简介
发射率测定仪，应用范围广泛,可在数秒钟内确测定物体表面热发射率，实为测量发射率进行有效质量控制的理想设备。
可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量，该设备自成一体，包含全部操作和电子元件，可测量和处理传感器信号和显示数据，以及控制黑体温度。
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