江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 涂镀层测厚
应用领域：广泛应用于线路板、引线框架及电子元器件接插件检测、镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、手表、精密仪表制造行业、
钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测、卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、电镀液的金属阳离子检测
电镀测厚仪
江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 涂镀层测厚
应用领域：广泛应用于线路板、引线框架及电子元器件接插件检测、镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、手表、精密仪表制造行业、
钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测、卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、电镀液的金属阳离子检测。
江苏一六仪器 X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列
技术参数
X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管
准直器φ 0.05 mm ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 准直器任意选择或者任意切换
近测距光斑扩散度：9%
测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察：1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦
放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍
随机标准片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件：联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱
江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪
产品配置
X光金属镀层测厚仪标准配置为：X射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。
性能指标
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA
可测元素：CI～U
检测器：正比计数管
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
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