一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
定位方式：
1、移动平台：
A、手动（普通和带精密滑轨移动）：装配设计不同精准移位
光谱分析仪
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
定位方式：
1、移动平台：
A、手动（普通和带精密滑轨移动）：装配设计不同精准移位从0.5mm-0.005mm不等，移动的灵动性差距也很大。
B、电动（自动）：装配设计不同精准移位从0.2mm-0.002mm不等
但同样的手动或者自动，其定位精准也相差很多。
2、高度定位：
A、手动变焦和无变焦
B、激光对焦和CCD识别对焦
江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 元素分析范围：氯（CI）- 铀（U）
厚度分析范围：各种元素及有机物
x射线荧光镀层测厚仪（国产）是一款针对金属电镀层（镀金、镀镍、镀锌、镀锡等）厚度的，通过X荧光照射出产品，每个元素反射出的二次特征谱线，通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度，完全达到无损、分析的效果，产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业（铝平行管、电镀五金），连接器企业、开关企业等。8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z轴程控移动高度43。
x射线荧光镀层测厚仪性能优势
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数
一次可同时分析多达五层镀层
度适应范围为15℃至30℃
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
分析含量一般为2ppm到99.9%
江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪
产品配置
X光金属镀层测厚仪标准配置为：X射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。
性能指标
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA
可测元素：CI～U
检测器：正比计数管
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
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