在 GJB 360B—2009《电子及电气元件试验方法》中涉及高温试验的有“高温寿命试验”，其试验目的是用于确定试验样品在高温条件下工作一段时间后，高温对试验样品的电气和机械性能的影响，从而对试验样品的质量做出评定。在 GJB 128A—1997《半导体分立器件试验方法》中涉及高温试验的有“高温寿命（非工作）”和“高温寿命（非工作）（抽样方案）”两种试验，前者的试验的目的是用于
高低温湿热交变试验箱
在 GJB 360B—2009《电子及电气元件试验方法》中涉及高温试验的有“高温寿命试验”，其试验目的是用于确定试验样品在高温条件下工作一段时间后，高温对试验样品的电气和机械性能的影响，从而对试验样品的质量做出评定。在 GJB 128A—1997《半导体分立器件试验方法》中涉及高温试验的有“高温寿命（非工作）”和“高温寿命（非工作）（抽样方案）”两种试验，前者的试验的目的是用于确定器件在承受规定的高温条件下是否符合规定的失效率，后者的试验目的是用于确定器件在承受规定的条件下是否符合规定的抽样方案。高低温调试箱在用于时应该注意事项：1、如果箱内放置发热试料时，试料电源控制请用于外加电源，不要直接用于本机电源。电子元器件在高温环境中，其冷却条件恶化，散热困难，将使器件的电参数发生明显变化或绝缘性能下降。例如，在高温条件下，存在于半导体器件芯片表面及管壳内的杂质加速反应，促使沾污严重的产品加速退化。此外，高温条件对芯片的体内缺陷、硅氧化层和铝膜中的缺陷以及不良的装片、键合工艺等也有一定的检验效果。GJB 150《设备环境试验条件》是设备环境试验标准，它规定了统一的环境试验条件或等级，用以评价设备适应自然环境和诱发环境的能力，适用于设备研制、生产和交付各阶段，是制定有关设备标准和技术文件的基础和选用依据。
高低温试验机待温度初步稳定下来，辅助机组就停止工作，由主机组来维持温度的降温及稳定。由于高低温箱基本由电气、制冷和机械多个系统组成，因此一旦设备出现问题，应地对整个设备系统进行检查和综合分析。如果高低温试验机主机组R23泄露，会使主机组的制冷效果不大，由于降温过程中，两机组同时工作，故没有温度稳定不住的现象，而指示降温速率降低。在温度保持阶段，一旦辅助机组停止工作，主机组又无制冷作用， 高低温试验机内的空气温度就会缓慢上升，当温度上升到一定程度，控制系统就会又启动辅助机组来降温，然后高低温试验机辅助机组又停止工作，如此反复，便会出现低温度保持不住的故障现象。那么就确认高低温试验机的故障原因是主制冷机组的低温（R23）级机组的制冷剂R23泄漏。
注意事项
1.避免15分钟内关闭再开启冷冻机。
2.在操作当中，除非有必要，请不要打开箱门，否则可能导致下列不良的后果： ·高温气流冲出箱外，造成。 ·高温空气可能触发火灾报警，产生误动作。 ·箱门内侧仍然保持高温，造成。
3.禁止试验性，可燃性及高腐蚀性物质。
4.试验箱在安装时箱体外壳必须接地，如果试验箱没有接地，一旦漏电则会非常危险。
5.如果箱内放置发热试品时，试品电源控制请使用外加电源，不要直接使用本机电源。 放入高温试料作低温试验时应注意：开启箱门时间要尽可能的短。
6.电路断路器和超温保护器是提供本机测试品以及操作者的安全保护，需要定期检查。
7.照明灯除必要时打开外，其余时间应关闭。
8.在做低温前，应将工作室檫干。
9.在垂直于主导风向的任何截面上，试验负载截面面积之和不应大于该处工作截面的三分之一。
10.本试验箱在刚开始一周内做高温时有烟雾及异味排除均属正常现象，因为试验箱在制造时，使用的钢板上面有润滑油，所以新的试验箱在刚开始使用高温时会产生油烟被烤产生的异味。
11.试验结束后不要立刻打开工作室大门，以免遭受热气流对操作人员的冲击。如必须马上取出试验样品，必须佩带隔热手套，以免。
12.所有试样应均匀放置，试验的放置应保证工作室有效空间内。
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