一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
定位方式：
1、移动平台：
A、手动（普通和带精密滑轨移动）：装配设计不同精准移位
镀层测厚仪
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
定位方式：
1、移动平台：
A、手动（普通和带精密滑轨移动）：装配设计不同精准移位从0.5mm-0.005mm不等，移动的灵动性差距也很大。
B、电动（自动）：装配设计不同精准移位从0.2mm-0.002mm不等
但同样的手动或者自动，其定位精准也相差很多。
2、高度定位：
A、手动变焦和无变焦
B、激光对焦和CCD识别对焦
这些方法中种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。打开仪器高压钥匙，观察软件界面管流值不为0值且正常上升至1000左右5。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X荧光光谱仪原理及应用领域
一、简单原理
每个元素受高能辐射激发，即发射出具有一定特征的X射线谱线。通过软件测试分析得出该谱线波长，即可知道是那种元素（定性）；通过分析测试其强度，得出该元素含量（定量）。X荧光光谱分析是一种非常常见的分析技术，
二、应用领域
X荧光光谱仪作为一种常见的分析技术手段，在现实生活中有着非常广泛的应用，主要可以分为以下四大类：
1.镀层行业
电镀行业尤其以工业电镀为主，在工业生产中，通常我们为了产品尤其是金属类能达到一定的性能会在其表面镀上另一种金属，这种金属电镀的膜厚往往是受管控，而X荧光光谱仪就是其best的管控者。
2.重金属检测
我们的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等这些都跟我们有着紧密的关联，但这其中也许就含有对我们人体是有害的重金属，如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等长期接触会导致人体的病变甚至，为了使用安全，工业生产时需对产品重金属检测管控（RoHS检测），而X荧光仪器就能对其进行监测。二．磁感应测量原理镀层厚度分析仪采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。
3.元素成分分析
元素成分分析应用也是更加广泛，如岩石矿产的开发开采，钢铁、铜合金、铝合金等可能因某一种元素的含量不同就会大大改变其物理性质，为达到这种物理性质就需要控制相关元素的含量，通过X荧光仪器的检测就可以很好的生产出我们所需的物品，另外还可以利用成分分析原理对珠宝首饰进行真假鉴定。而能量色散型，是由探测器本身的能量分辨本领直接探测X射线的能量。
4.古董的检测
X荧光仪器在古董的检测鉴定上也起着重要的作用，通过仪器检测对产品进行定性分析可得其元素成分，从而对产品的年限进行一个判断，得出结论。
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