在21世纪初，液位传感器产业化发展仍存在不小的挑战。据悉，我国已有1700多家从事液位传感器的生产和研发的企业，液位传感器年产量突破24亿只，液位传感器产品达到10大类、42小类、6000多个品种，呈现出良好的发展态势，但在这企业中，外资企业优势明显，外资企业比重达到67%，尤其是日本、美国、韩国和德国，国有企业和民族企业所占比重仅为33%。国内外企业综合实力悬殊，规模小，人才
温度传感器的型号
在21世纪初，液位传感器产业化发展仍存在不小的挑战。据悉，我国已有1700多家从事液位传感器的生产和研发的企业，液位传感器年产量突破24亿只，液位传感器产品达到10大类、42小类、6000多个品种，呈现出良好的发展态势，但在这企业中，外资企业优势明显，外资企业比重达到67%，尤其是日本、美国、韩国和德国，国有企业和民族企业所占比重仅为33%。国内外企业综合实力悬殊，规模小，人才短缺、研发能力弱，难与国外企业抗衡。更关键的是，在技术上，国内液位传感器技术薄弱，主要有以下三点：一是，核心技术和基础能力欠缺，核心芯片严重依赖国外进口，国内企业在、高敏感度分析、成分分析和特殊应用的方面与国外企业差距明显。二是在设计、可靠性、封装等方面，缺乏统一标准和自主知识产权，在接口、深刻蚀、高温欧姆接触、高可靠MEMS封装、测试、高模拟等技术方面尚未取得突破性进展和产业化验证；三是产品在品种、规格、系列等方面还不够，在测量精度、温度特性、响应时间、稳定性、可靠性等技术指标方面仍有不小差别，因此浮子液位计传感器企业道远。一种常用热敏电阻在25℃时的阻值为5kΩ，每1℃的温度改变造成200Ω的电阻变化。
它的敏感元件与被测对象互不接触，又称非接触式测温仪表。这种仪表可用来测量运动物体、小目标和热容量小或温度变化迅速（瞬变）对象的表面温度，也可用于测量温度场的温度分布。的非接触式测温仪表基于黑体辐射的基本定律，称为辐射测温仪表。温度传感器（图3）辐射测温法包括亮度法（见光学高温计）、辐射法（见辐射高温计）和比色法（见比色温度计）。各类辐射测温方法只能测出对应的光度温度、辐射温度或比色温度。只有对黑体（吸收全部辐射并不反射光的物体）所测温度才是真实温度。如欲测定物体的真实温度，则必须进行材料表面发射率的修正。而材料表面发射率不仅取决于温度和波长，而且还与表面状态、涂膜和微观组织等有关，因此很难测量。在自动化生产中往往需要利用辐射测温法来测量或控制某些物体的表面温度，如冶金中的钢带轧制温度、轧辊温度、锻件温度和各种熔融金属在冶炼炉或坩埚中的温度。在这些具体情况下，物体表面发射率的测量是相当困难的。对于固体表面温度自动测量和控制，可以采用附加的反射镜使与被测表面一起组成黑体空腔。附加辐射的影响能提高被测表面的有效辐射和有效发射系数。利用有效发射系数通过仪表对实测温度进行相应的修正，终可得到被测表面的真实温度。四线制的多半是电压输出而不是4~20mA输出，4~20mA的叫压力变送器，多数做成两线制的。为典型的附加反射镜是半球反射镜。球中心附近被测表面的漫射辐射能受半球镜反射回到表面而形成附加辐射，从而提高有效发射系数式中ε为材料表面发射率，ρ为反射镜的反射率。温度传感器（图4）至于气体和液体介质真实温度的辐射测量，则可以用插入耐热材料管至一定深度以形成黑体空腔的方法。通过计算求出与介质达到热平衡后的圆筒空腔的有效发射系数。在自动测量和控制中就可以用此值对所测腔底温度（即介质温度）进行修正而得到介质的真实温度。
半导体压电阻型半导体压电阻抗扩散压力传感器是在薄片表面形成半导体变形压力，通过外力（压力）使薄片变形而产生压电阻抗效果，从而使阻抗的变化转换成电信号。
五线制压力传感器与四线制相差不大，市面上五线制的传感器也比较少。
压力传感器的信号输出有些是没有经过放大的，满量程输出只有几十毫伏，而有些压力传感器在内部有放大电路，满量程输出为0~2V。至于怎么接到显示仪表，要看仪表的量程是多大，如果有和输出信号相适应的档位，就可以直接测量，否则要加信号调整电路。
如果要进行可靠的温度测量，首先就需要选择正确的温度仪表，也就是温度传感器。
温度传感器检定装置功能和特点：1、检定K、E、J、N、B、S、R、T等多种型号的工作用热电偶；2、检定Pt100、Pt10、Cu50、Cu100等各种工作用热电阻，温度传感器（图10）玻璃液体温度计、压力式温度计、双金属温度计；3、多路低电势自动转换开关，寄生电势≤0.4μV；5---36VDC推荐24VDCCBM-2100/CBM-2700投入式静压液位计可靠防腐并带有陶瓷测量单元的探头，用于净水、污水及盐水的物位测量。4、控制1-4台高温炉；
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