仪一六仪器 精准分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统,的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析，
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件.
测厚仪分类：
一、磁性式
二、涡电流式
三、红外测厚仪
四、电解式（库伦法）
五、金相测试法
六、非破坏荧光式（X光）
具体讲
荧光测厚仪
仪一六仪器 精准分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统,的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析，
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件.
测厚仪分类：
一、磁性式
二、涡电流式
三、红外测厚仪
四、电解式（库伦法）
五、金相测试法
六、非破坏荧光式（X光）
具体讲下涡流测厚仪原理如下：
1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。尤其是在热轧的过程中,测量的空间大X射线途经的环境就比较大,当温度高时,测量值减小,当温度低时,测量值则增加。
2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
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测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：1.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
2.测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
3在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数
4.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
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测厚仪的应用：
1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工
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