NDC X射线高能测厚仪TVXR-2的测量原理
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NDC X射线高能测厚仪于x射线和同位素测量领域
NDC X射线高能测厚仪测量原理
NDC X射线高能测厚仪通过准确测量穿透金属的一定能量束(X射线或同位素)的衰减量来测量厚度。由于传感器固有的特性源于射线源和检测器的设计，NDC X射线高能测厚仪根
NDC光学测厚仪公司
NDC X射线高能测厚仪TVXR-2的测量原理
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NDC X射线高能测厚仪于x射线和同位素测量领域
NDC X射线高能测厚仪测量原理
NDC X射线高能测厚仪通过准确测量穿透金属的一定能量束(X射线或同位素)的衰减量来测量厚度。由于传感器固有的特性源于射线源和检测器的设计，NDC X射线高能测厚仪根本无需标定样板和测量目标的偏差。NDCFVXR-1Al:10-180g/m2/边（热镀铝锌）。正是这种高度稳定性使得所有的传感器(X-射线或同位素)得以在工厂完成一次性校正’并且提供覆盖全量程范围的一致精度而不只是“在”或“靠近”目标的厚度。
NDC X射线高能测厚仪提供每一个等级的合金补偿曲线。作为选项，全物理模式在已知化学成分的基础上通过计算的补偿曲线来获得更高的精度。
NDC测厚仪的组件介绍
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C型架和传感器箱体
C型架和传感器箱体为传感器提供高可靠的机械平台。专门为恶劣的工厂环境而设计：热辐射、振动、轧机磨损、冷却水等。框架的设计完全满足不同轧机和生产线的要求’无须牺牲轧机的操作。同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。在可移动系统中提供标准气动、电动或液动(可选)装置。顶部和底部的跟踪系统可以满足不同安装空间的要求。所有的框架均采用带保护套管的电缆和设备连接，同时提供电缆小车(可选)。此外还提供单框架双探头以满足用户要求：在穿带时该“摆动头”组合激光测速仪来开启测量缝。
NDC X射线镀层测量仪组件介绍
支架和驱动器
根据安装要求选择O型架或分离架。顶部和底部的探测头的定位由两个分离的带内置定位编码器的重型马达来进行，准确度为+/-1mm(0.004英寸)。
探测头线性运行导向设计适用于高负载及长时间可靠性。
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NDC测厚仪的种类有哪些？
用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。
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