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光谱膜厚仪

一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪 应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题 软件算法 大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知厚度样品,寻求
光谱膜厚仪









一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题


软件算法




大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知厚度样品,寻求想测定元素的荧光X射线强度和厚度之间的关系,以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线,从而得到浓度值。

另一个方法是理论演算的基础参数法(FP法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提,利用计算的各个荧光X射线强度的理论值,推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。
NBS-GSC法也称作理论Alpha系数法。它是基于荧光X射线激发的基本原理,从理论上使用基本物理参数计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线荧光强度的。基于此再计算Lachance综合校正系数,然后使用这些理论α系数去校正元素间的吸收增强。江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。它与经验系数法不同,这些校正系数是从“理论”上取得的,而非建立在“经验”上。因而它也不需要那么多的标样,只要少数标样来校准仪器因子。








XTU-A、XTU-50A:五金产品、紧固件、汽车配件、卫浴等,测量面积大于0.2mm的产品

XTU-BL:主要针对线路板等大平面,但是需要测试0.1mm以下,且求购仪器预算较低的客户。

XTU-50B、XTU-4C:可测试小至0.05mm测量面积,且搭载的精密移动平台和变焦镜头(XTU全系列都含有)能满足各种需求。



一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um


江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪应用领域

集成电路是国民经济首要突破的行业,现代制造业的发展,集成电路是基础。如果保证电路板生产的质量,电镀检测重中之重!x射线荧光膜厚测厚仪为集成电路的发展,PCB线路板加工业的质量保驾护航。价格一直是客户在购买时关心的问题,好质量和售后服务的产品在价格上面往往比较高,所以客户在选择产品时选择的就需要一定的了解,首先是,其次是客户调查,售后服务等。x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试,镀锡测试。1X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管,Be窗标准靶材:Rh靶。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚,PCB线路板的镀银厚度分析。 的详细信息x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试,镀锡测试。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚,PCB线路板的镀银厚度分析。

x射线荧光膜厚测厚仪已经成为电力行业,PCB行业,首饰行业的镀层分析的常规手段,比传统的电解法测厚仪具有更快的测试速度和分析精度,也比切片法具有更快的分析效率。







江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪在电镀行业的应用


由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量或厚度。

PCB线路板主要有镀金,镀镍,镀铜,镀银,镀锡等种类。其电镀工艺流程如下:

浸酸→全板电镀铜→图形转移→酸性除油→二级逆流漂洗→微蚀→二级浸酸→镀锡→二级逆流漂洗→浸酸→图形电镀铜→二级逆流漂洗→镀镍→二级水洗→浸柠檬酸→镀金→回收→2-3级纯水洗→烘干。

对于PCB生产企业来说,厚度的有效控制能做到有效的节约成本,又能满足客户需求,做到耐氧化、等。而X射线荧光镀层测厚法是PCB工业检测电镀厚度的有效手段。下面介绍一款x射线荧光膜厚测厚仪XTU-BL。我们的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪的技术,的团队,严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。利用XRF无损分析技术检测镀层厚度的仪器就叫X射线测厚仪,又膜厚测试仪,镀层检测仪,XRF测厚仪,PCB镀层测厚仪,金属镀层测厚仪等。X射线能同时实现多镀层厚度分析。在实际应用中,多采用实际相近的镀层标注样品进行比较测量(即采用标准曲线法进行对比测试的方法)来减少各层之间干扰所引起的测试精度问题。








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