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显微镜测量模式及比对模式,可搭配GSM显微镜测量模式：具有测量模式及比对模式，可搭配GSM-C289A软件进行分析。
1、绘图——可以在计算机显示器上很方便地观察金相图像，并对金相图谱进行分析，评级等。结合光学影像量测系统，对工件进行高度的光学量测，并可以以EXCEL、WORD、TXT格式输出做数据分析，并可以用DFX格
北京偏光显微镜公司
企业视频展播，请点击播放
视频作者：迪卡尔科技（天津）有限公司
显微镜测量模式及比对模式,可搭配GSM
显微镜测量模式：具有测量模式及比对模式，可搭配GSM-C289A软件进行分析。
1、绘图——可以在计算机显示器上很方便地观察金相图像，并对金相图谱进行分析，评级等。结合光学影像量测系统，对工件进行高度的光学量测，并可以以EXCEL、WORD、TXT格式输出做数据分析，并可以用DFX格式输出在CAD中进行工程图的设计。
2、 测量——可测量平面上的任何几何图形之尺寸（角度、长度、直径、半径、点到线的距离、圆的偏心、两圆间距等）
3、 标注——可在实时影像中的实际工件上标注各种几何尺寸。
4、 拍照——可拍下实物照片，包括所标注的尺寸。
显微镜测量模式在鸟瞰视图
显微镜测量模式
在鸟瞰视图中标注：可以在鸟瞰全图中进行标注尺寸。
直接输入圆、线段：可按需要输入标准的圆或线（客户自己定义圆、线的大小、长度和坐标位置）。再以标准的圆、线与影像中的实物比较，从而找到工件的误差。
以极坐标方式输入线：可按客户需要以极坐标的方式输入标准线段。
自设客户坐标：可以根据客户本身的需要，自行在实时影像上设定坐标原点（0，0）。
坐标标注：以自己所设定之坐标原点（0，0）为基准，标注实时影像中任意一点的坐标位置。
交点：可以自动两线的交点。
抛光的目的是去除细磨后遗留在磨面上的细微磨痕
抛光
抛光的目的是去除细磨后遗留在磨面上的细微磨痕，得到光亮无痕的镜面。抛光的方法有机械抛光、电解抛光和化学抛光三种，其中的是机械抛光。机械抛光在抛光机上进行，将抛光织物(粗抛常用帆布，精抛常用毛呢)用水浸湿、铺平、绷紧并固定在抛光盘上。
启动开关使抛光盘逆时针转动，将适量的抛光液(氧化铝、氧化铬或氧化铁抛光粉加水的悬浮液)滴洒在盘上即可进行抛光，抛光时应注意：
试样沿盘的径向往返缓慢移动，同时逆抛光盘转向自转，待抛光快结束时作短时定位轻抛。
)在抛光过程中，要经常滴加适量的抛光液或清水，以保持抛光盘的湿度，如发现抛光盘过脏或带有粗大颗粒时，必须将其冲刷干净后再继续使用。
抛光时间应尽量缩短，不可过长，为满足这一要求可分粗抛和精抛两步进行。
④抛有色金属(如铜、铝及其合金等)时，在抛光盘上涂少许肥皂或滴加适量的肥皂水。
金相显微镜在选购中的注意事项
金相显微镜在选购中的注意事项
金相显微镜是值、高精密的光学仪器，其核心部份是光学成像系统，产品的好坏关系到成像的效果和分析判断的准确性。选购金相显微镜时要注意以下几点：
在成像质量方面要同时满足四个基本条件。金相显微镜是利用光学成像原理获得金属显微组织图像（即金相图谱），而后对金相图谱进行定性定量分析，成像质量的高低是衡量金相显微镜好坏的首要指标。要获得清晰的图像必须满足高反差、高亮度、色还原好和高分辨率这四个基本条件。而个条件正是用户选型时忽略的，用户选购时切忌盲目追求分辨率而忽略其它三个方面，只有这样才能做到物有所值，物尽其用。
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