IR-2双波段发射率测试仪
科学院技术物理所研制的IR-2双波段发射率测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。大屏幕LED显示设备的状态，测量结果和操作菜单，触摸屏面板确保所有功能轻松实现。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过的
红外热发射率仪厂家
IR-2双波段发射率测试仪
科学院技术物理所研制的IR-2双波段发射率测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。大屏幕LED显示设备的状态，测量结果和操作菜单，触摸屏面板确保所有功能轻松实现。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。
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热发射率仪简介
发射率测定仪，应用范围广泛,可在数秒钟内确测定物体表面热发射率，实为测量发射率进行有效质量控制的理想设备。
可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量，该设备自成一体，包含全部操作和电子元件，可测量和处理传感器信号和显示数据，以及控制黑体温度。
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热发射率仪——原理介绍
新型发射率测量仪是采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率的。它能测量常温样品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三个波段的发射率。当有特殊需要时，它可通过的控温装置在-100℃~600℃任何温度范围内加热或冷却样品，从而对样品进行发射率变温测量。C12为总辐射系数，其值与两物体的黑度、大小、形状和相对位置有关。
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