头部集成了薄膜厚度测量所需功能
通过显微光谱法测量高i精度绝i对反射率（多层膜厚度，光学常数）
1点1秒高速测量
显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）
区域传感器的安全机制
易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析
独立测量头对应各种inline客制化需求
支持各种自定义
测量
OPTM光学膜测试
头部集成了薄膜厚度测量所需功能
通过显微光谱法测量高
i精度绝
i对反射率（多层膜厚度，光学常数）
1点1秒高速测量
显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）
区域传感器的安全机制
易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析
独立测量头对应各种inline客制化需求
支持各种自定义
测量项目：
绝
i对反射率测量
多层膜解析
光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
膜厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
膜厚仪在电气安全方面按照要求正常使用仪器，就不会对人造成任何危险或损害。膜厚仪包含传导线电压的元件，它是按照准则的安全条款设计的。必须遵循仪器安全条款和准则有关仪器操作的规定！ 电源连接为避免损坏仪器,供电电压必须与膜厚仪铭牌上的电压一致。仪器必须使用三相插头连到一个已接地的插座上。
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