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显微镜测量模式及比对模式,可搭配GSM显微镜测量模式:具有测量模式及比对模式,可搭配GSM-C289A软件进行分析。
1、绘图——可以在计算机显示器上很方便地观察金相图像,并对金相图谱进行分析,评级等。结合光学影像量测系统,对工件进行高度的光学量测,并可以以EXCEL、WORD、TXT格式输出做数据分析,并可以用DFX格
北京偏光显微镜批发
企业视频展播,请点击播放
视频作者:迪卡尔科技(天津)有限公司
显微镜测量模式及比对模式,可搭配GSM
显微镜测量模式:具有测量模式及比对模式,可搭配GSM-C289A软件进行分析。
1、绘图——可以在计算机显示器上很方便地观察金相图像,并对金相图谱进行分析,评级等。结合光学影像量测系统,对工件进行高度的光学量测,并可以以EXCEL、WORD、TXT格式输出做数据分析,并可以用DFX格式输出在CAD中进行工程图的设计。
2、 测量——可测量平面上的任何几何图形之尺寸(角度、长度、直径、半径、点到线的距离、圆的偏心、两圆间距等)
3、 标注——可在实时影像中的实际工件上标注各种几何尺寸。
4、 拍照——可拍下实物照片,包括所标注的尺寸。

物镜按照无限远象距进行设计而不是象常规物镜
物镜按照无限远象距进行设计而不是象常规物镜那样按照有限象距进行设计,这种光学系统称为无限远色差和象差校正的光学系统或简称无限远光学系统。使用这种光学系统时,当入射光从试样表面反射再次进入物镜后,并不收敛而是保持为平行光束,直到通过镜筒透镜后才收敛并形成中间象,即一次放大实象,然后才供目镜再次放大。
平场消色差物镜
现今新型显微镜已经普遍使用平场消色差物镜,甚至还可以配置更的平场复消色差物镜。老式物镜初次放大实象的直径只有18mm~20mm,而平场消色差物镜则规定高度校正的初次放大平面象的直径为28mm,即象场面积增大了一倍,并使象场弯曲得到了很好的校正。

细磨粗磨后的试样,磨面上仍有较深的磨痕,为了消除这些磨痕必须
细磨
粗磨后的试样,磨面上仍有较粗较深的磨痕,为了消除这些磨痕必须进行细磨。细磨,可分为手工磨和机械磨两种, 目前机械磨是主要的磨样方式。
目前普遍使用的机械磨设备是预磨机。电动机带动铺着水砂纸的圆盘转动,磨制时,将试样沿盘的径向来回移动,用力要均匀,边磨边用水冲。水流既起到冷却试样的作用,又可以借助离心力将脱落砂粒、磨屑等不断地冲到转盘边缘。机械磨的磨削速度比手工磨制快得多,但平整度不够好,表面变形层也比较严重。因此要求较高的或材质较软的试样应该采用手工磨制。

显微镜、微电子装置、更高的检测功能,如键合或键合线,现在主要
显微镜、微电子装置、更高的检测功能,如键合或键合线,现在主要是了解普通显微镜和金相显微镜之间的区别。
金相显微镜是一种普通的光学显微镜,它可以添加一些辅助功能,如亮场、暗场、偏振光、差分干涉等。金相显微镜与普通显微镜的区别是什么呢?
不同的是,由于样品不同,需要金相检验的金相显微镜等金属材料,可以用偏光显微镜和生物发光标记的荧光素显微镜、MICR的大框架来观察矿石类型。镜是一样的不同于小配件,所以效果是不同的。

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