一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪相关注意事项：
仪器供电电压必须与仪器上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。
本仪器为精
光谱测厚仪
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪相关注意事项：
仪器供电电压必须与仪器上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。
本仪器为精密仪器,配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(UPS)。
仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。
为避免短路,严禁仪器与液体直接接触,如果液体进入仪器,请立即关闭仪器。
本仪器不能用于酸性环境和场合。
不要弄脏和刮擦调校标准片,否则会造成读数错误。
不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物,可以用不起毛的布轻轻擦拭。
X射线测厚仪结构
（一）、外部结构原理图
X荧光做镀层分析时，根据射线是至上而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将X荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。
（二）、各种外部结构的特点
1、上照射方式
用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的Z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，确保测量的准确性。
①、Z轴的移动方式
根据Z轴的移动方式，分为自动和手动两类；
自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都很高，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上点击一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。放置样品：打开测试腔，将样品需要测试的一面大致朝向测试窗，边观察软件测试画面边通过移动平台滑轨微调测试位置进而达到测试要求位置11。
手动型设备，一般需要用人观察图像的方式，根据参考斑点的位置，手动上下调节Z轴方向，以达到准确对焦的目的。因此，往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。
②、X、Y轴水平移动方式
水平移动方式一般分为：无X、Y轴移动装置；手动X、Y轴移动装置；电动X、Y轴移动装置；全程控自动X、Y轴移动装置。
这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无X、Y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，定位比较容易的测试对象。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X射线荧光测厚仪操作注意事项：
测厚仪操作时候需要注意的：
技术指标：
1 分析元素范围：Cl（17）-U（92）
2 同时可分析多达5层镀层以上
3 分析厚度检出限高达0.01μm
4 多次测量重复性高可达0.01μm
5测量时间：5s-300s
6 计数率：0-8000cps
测厚仪操作流程
打开仪器开关----在电脑上开启软件-------开高压钥匙-------联机------预热-----峰位校正------新建程式------选择相应的程式-----测试样品----出报告
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