红外测温仪的原理四
影响发射率的主要因素在：材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。当用红外辐射测温仪测量目标的温度时首先要测量出目标在其波段范围内的红外辐射量，然后由测温仪计算出被测目标的温度。单色测温仪与波段内的辐射量成比例；双色测温仪与两个波段的辐射量之比成比例。红外系统：红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。对于比色测温仪
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红外测温仪的原理四
影响发射率的主要因素在：材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。当用红外辐射测温仪测量目标的温度时首先要测量出目标在其波段范围内的红外辐射量，然后由测温仪计算出被测目标的温度。单色测温仪与波段内的辐射量成比例；双色测温仪与两个波段的辐射量之比成比例。红外系统：红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。对于比色测温仪，不充满视场，测量通路上存在烟雾、尘埃、阻挡，对辐射能量有衰减时，都不对测量结果产生重大影响。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。
红外测温仪的使用要点三
确定距离系数（光学分辨率）
距离系数由D：S之比确定，即测温仪探头到目标之间的距离D与被测目标直径之比。如果测温仪由于环境条件限制必须安装在远离目标之处，而又要测量小的目标，就应选择高光学分辨率的测温仪。光学分辨率越高，即增大D：S比值，测温仪的成本也越高。Raytek红外测温仪D：S的范围从2：1（低距离系数）到高于300：1（高距离系数）。非接触红外测温仪包括便携式、在线式和扫描式三大系列，并备有各种选件和计算机软件，每一系列中又有各种型号及规格。如果测温仪远离目标，而目标又小，就应选择高距离系数的测温仪。对于固定焦距的测温仪，在光学系统焦点处为光斑较小位置，近于和远于焦点位置光斑都会增大。存在两个距离系数。因此，为了能在接近和远离焦点的距离上准确测温，被测目标尺寸应大于焦点处光斑尺寸，变焦测温仪有一个较小焦点位置，可根据到目标的距离进行调节。增大D：S，接收的能量就减少，如不增大接收口径，距离系数D：S很难做大，这就要增加仪器成本。
红外热像仪的优点原理及其使用的系统介绍
与传统的测温方式(如热电偶、不同熔点的蜡片等放置在被测物表面或体内)相比，红外热像仪可在一定距离内实时、定量、在线检测发热点的温度，通过扫描，还可以绘出设备在运行中的温度梯度热像图，而且灵敏度高，不受电磁场干扰，便于现场使用。红外测温仪的选择（1）性能指标方面，如温度范围、光斑尺寸、工作波长、测量精度、窗口、显示和输出、响应时间、保护附件等。它可以在-20℃～2000℃的宽量程内以0.05℃的高分辨率检测电气设备的热致故障（根据致热效应，通过设备获取从设备表面发出的红外辐射信息，进而判断设备状况和缺陷性质）揭示出如导线接头或线夹发热，以及电气设备中的局部过热点等等。
红外热像仪一般分光机扫描成像系统和非扫描成像系统。光机扫描成像系统采用单元或多元（元数有8、10、16、23、48、55、60、120、180甚至更多）光电导或光伏红外探测器，用单元探测器时速度慢，主要是帧幅响应的时间不够快，多元阵列探测器可做成高速实时热像仪。该测温仪在使用过程中基本无任何消耗成本，和使用热电偶相比每年每炉节约成本至少1。非扫描成像的热像仪，如新一代的焦平面阵列式凝视成像的焦平面热像仪，在性能上大大优于光机扫描式热像仪，有逐步取代光机扫描式热像仪的趋势。现场测温时只需对准目标摄取图像，并将上述信息存储到机内的PC卡上，即完成全部操作，各种参数的设定可回到室内用软件进行修改和分析数据，直接得出检测报告，由于技术的改进和结构的改变，取代了复杂的机械扫描，仪器重量已小于二公斤，使用中如同手持摄像机一样，单手即可方便地操作。其关键技术是探测器由单片集成电路组成，被测目标的整个视野都聚焦在上面，并且图像更加清晰，使用更加方便，仪器非常小巧轻便，同时具有自动调焦图像冻1结，连续放大，点温、线温、等温和语音注释图像等功能，仪器采用PC卡，存储容量可高达500幅图像。
如何使用红外线测温仪诊断设备故障？
由红外线测温仪进行设备故障红外诊断核心的问题，要求准确地获得被测设备的温度分布或故障相关点温度值与温升值。这个温度信息不仅是判断设备有无故障的依据，也是判断故障属性、位置、严重程度的客观依据。以上都是红外测温仪的应用领域，它使人们更加的便捷和方便，重要的是减小了危险性。因此，对被测设备故障相关部位温度的计算与合理修正，是提高检测设备表面温度准确性的关键环节。但是在现场进行设备红外检测时，由于检测条件和环境的影响变化，可能导致同一设备因检测条件不同，而得到不同的结果。因此，为了提高红外检测的准确度，必须对现场检测过程中或对检测结果的分析处理中，采取相应的对策与
