大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
使用显微光谱法在微小区域内通过绝i对反射率进行测量，可进行高i精度膜厚度/光学常数分析。
可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶
OPTM膜厚仪价格
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
使用显微光谱法在微小区域内通过绝
i对反射率进行测量，可进行高
i精度膜厚度/光学常数分析。
可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件
硬涂层膜厚度的测量[FE-0004]
近年来，使用具有各种功能的高
i性能薄膜的产品被广泛使用，并且根据应用不同，还需要提供具有诸如摩擦阻力，抗冲击性，耐热性，薄膜表面的耐化学性等性能的保护薄膜。通常保护膜层是使用形成的硬涂层（HC）膜，但是根据HC膜的厚度不同，可能出现不起保护膜的作用，膜中发生翘曲，或者外观不均匀和变形等不良。 因此，管理HC层的膜厚值很有必要。
膜厚仪在电气安全方面按照要求正常使用仪器，就不会对人造成任何危险或损害。膜厚仪包含传导线电压的元件，它是按照准则的安全条款设计的。必须遵循仪器安全条款和准则有关仪器操作的规定！ 电源连接为避免损坏仪器,供电电压必须与膜厚仪铭牌上的电压一致。仪器必须使用三相插头连到一个已接地的插座上。
膜厚仪直接的镀膜操纵方法是石英晶体微量平衡法(QCM)，此法可以直接驱动蒸发祥，通过PID控制循环驱动挡板，保持蒸发速率。只有将仪器与系统控制软件相连接，它就可能节制全体的镀膜进程。然而QCM的正确度是有限的，部分起因是由于它监控的是被镀膜的质量而不是其光学厚度。
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