相位差光学材料量
产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。
购买须知
1、厂家货源正i品
日本原装。
2、关于尺码
按照出厂产品资料有说明。
3、关于颜色
4、关于客服
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RETS-100偏光膜测试
相位差光学材料量
产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。
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日本产品保修一年，消耗品不再维修范围内。
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自动XY-stage以及自动倾斜旋转stage的2个Sample stage。Calibration时，自动set基准sample。
用基准Sample实施设备，偏光prism unit的角度校正和基准Sample自身的Retardation测量。此外，反射用偏光子的角度校正可同时进行。
设置场所 ： 屋内设置（避免太阳直射）
周围温度 ：２０～３5℃ 不存在温度急剧变化的场合
相对湿度 ：３０～８０％
周围环境 ： 湿气、灰尘少、无腐蚀性气体、换气良好
电压 ： AC110V±10V（单相）
：没有急剧的负载变化 。
：附近没有显著噪声源。接地应该是接地电阻１００Ω以下。
MAX 15A
偏光计测模组是用CCD camera的1shot来获取多角度的偏光强度pattern，因与以往的偏光计测装置相比，其无偏光子回旋机构，故其可维持其的测定及稳定的性能。
本Software自动制御偏光Prism unit和MCPD，测量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的测量。每个Sample品种，会准备Recipe（测量条件File）所以Operator 放置Sample后，选择Recipe，即可实现测量。
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