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影响超声波测厚仪精度的因素
影响超声波测厚仪精度的因素
耦合剂的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。实际使用中由于耦合剂使用过多，造成探头离开工件时，仪器示值为耦合剂层厚度值。
被测物体(如管道)
超声波测厚设备厂家
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影响超声波测厚仪精度的因素
影响超声波测厚仪精度的因素
耦合剂的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。实际使用中由于耦合剂使用过多，造成探头离开工件时，仪器示值为耦合剂层厚度值。
被测物体(如管道)内有沉积物，当沉积物与工件声阻抗相差不大时，测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。
金属表面氧化物或油漆覆盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层，虽与基体材料结合紧密，无名显界面，但声速在两种物质中的传播速度是不同的，从而造成误差，且随覆盖物厚度不同，误差大小也不同。
当材料内部存在缺陷(如夹杂、夹层等)时，显示值约为公称厚度的70%(此时要用超声波探伤仪进一步进行缺陷检测)。
应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，则应力作用使工件弹性增加，声速加快;反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。在大部分情况下，只要使用一个参考试块就能得到令人满意的测量精度，这个试块应具有与被测材料相同的材质和相近的厚度。
超声波测厚设备厂家
根据以往故障分析，杆塔耐张线夹中两个钢锚凹槽中有一个未压接到位、耐张线夹钢锚型号“以大代小”和“以小代大”缺陷都有发生，以往利用射线检测方法检测耐张线夹压接质量，仪器设备重量相对较重，目前轻的便携式射线机重量在3公斤左右，单个线夹检测时间需要40分钟，且高空作业需要设备和检测人员开展，特别是射线检测具有较大的辐射性，需要疏散现场人员。在省电科院的推广和指导下，输电室采用“超声波测厚仪”检测工艺，避免了射线检测中的设备仪器重、有辐射、操作难度大等问题，超声波测厚检测装置重量仅223克，单个耐张线夹检测时间仅10秒，工作效率提升了约80倍。通过对耐张线夹压接后铝套管进行厚度检测，以反映压接后耐张线夹铝套管和钢锚的相对位置，从而判断是否存在压接定位缺陷。4、将常用的11种材料声速固定输入仪器，使用时直接调整到对应代码即可。
第二代仪器，采用的是“界面——回波”技术.
即，事先剔除脉冲信号从晶振片开始到被测物表面的时间；
这种技术的出现，其目的本来是为了剔除“晶振片到探头保护膜的距离”给测厚带来的误差，事实上，这个“距离”，与要测的厚度通常不在一个数量级上，因此，其适用性只在一个很窄的范围内才有意义。这种技术自本世纪初，在国外的仪器中开始有大量的应用，但作为一种“权宜之计”的过渡技术，很快被跨越，不到五年的时间，就让出了它的“优越地位”。超声波测厚设备厂家在实际的检验应用中，倘若超音波涂层测厚仪出現示值失帧，偏位实际厚薄的现象，便会造成管路的安全风险，也就是一句有误的数据信息拆换了管件，造成原料的许多铺张浪费。
第三代仪器，采用的是“回波——回波”技术。
即，以“次底面回波”和“第二次底面回波”的时间差为基础来计算厚度；这种技术，与“界面——回波”技术有相同的地方，即，都不用考虑“晶振片到探头保护膜的距离”带来的测量误差，但同样，只在小范围内才有适用意义。
这种技术得以应用，其更大意义在于：该技术改变了仪器的电路结构，使得仪器可以给换能器（探头）更大的能量、并能更好地分检回波信号，因此，应对“信号衰减”，采用这种技术的仪器比前两代仪器有了质的提升；(2)30mm多一点测量法:当测量值不稳定时,以一个测量点为管理中心,在直径为30mm的圆内开展数次测量,取蕞小值为被测钢件厚度值。也因此，“回波—回波”，成了迄今为止超声波测厚仪共同的技术基础。
第四代仪器，采用的是“A扫描信号测厚”技术。
前面三代都是“读数型测厚仪”，不管读哪几次波，*终都是靠事先设定的程序由仪器来判定和计算的。而“A扫测厚仪”则是将所有的信号都显示在屏幕上，由操作者自行判断、并且可以计算任意两次波的时间差，也就是说，将测量的主动权交给了操作者，这对于分析型测厚、以及杂波信号较多的测厚非常有帮助；如塔器直对流体力学進口的器壁、管路的弯管转角部位、容器的汽液页面、沉淀集聚的盲区等部位。
第五代仪器，采用的是单晶探头。
前面四代测厚仪，使用的都是双晶探头（只有在超薄件测厚中，才有专门的机型使用高频单晶探头），而双晶探头，由于晶振片排列的结构性因素，超声波的传递呈现出一个“V”型路径，这意味着，晶振片发射和接收信号的有效面积势必受到“V”路径的影响，也就是说，每个双晶探头的测厚范围受晶振片直径、晶振片斜角的影响较大。1测量方法单点测量法：在被测体上任一点，利用探头测量，显示值即为厚度值。
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