牛津仪器工业分析部（Oxford Instruments IndustrialAnalysis）牛津仪器工业分析部提供多系列分析工具满足各个行业严格的质量控制要求。凭借30多年的XRF技术经验，牛津仪器的分析系统可以实现各种材料（固体、液体、粉末、糊状物、油脂、薄膜等）中元素组成的、无损检测，同时也可实现样品表面涂镀层厚度或组成分析。X-MET手持式XRF分析仪和移动式
手持式光谱仪维修
牛津仪器工业分析部（Oxford Instruments IndustrialAnalysis）牛津仪器工业分析部提供多系列分析工具满足各个行业严格的质量控制要求。凭借30多年的XRF技术经验，牛津仪器的分析系统可以实现各种材料（固体、液体、粉末、糊状物、油脂、薄膜等）中元素组成的、无损检测，同时也可实现样品表面涂镀层厚度或组成分析。X-MET手持式XRF分析仪和移动式直读光谱仪OES是对现场合金分类及PMI测试、ROHS中有害元素的检测、质量控制尤为重要的工具。我们的OES设备包括：ARC-MET、FOUNDRY-MASTER、FOUNDRY-MASTER COMPACT、PMI-MASTER PRO、PMI-MASTER SORT、TESTMASTER。Lab-X、Twin-X、ED2000及MDX1000各种XRF光谱仪应用于各种不同领域产品的日常分析，如石油产品的硫含量的分析、水泥中钙含量的分析。我们能提供多款性能可靠的光谱仪供您选择以满足您的分析需求。
适合分析材料：黑色金属、有色属、稀土金属无机物、矿石、陶瓷等物质
应用领域：冶金、机械、商检、科研、化工等行业中
特点：准确、、灵敏度高的特点
高低碳硫含量均使用技术指标：（1）测量范围:0.1g~0.5g碳Carbon0.00002%~15%(上限可扩展至)硫Sulfur0.00002%~5%（2）小读数:0.00001%（3）仪器精度:碳1ppm或RSD￡0.5%硫1ppm或RSD￡1.0%（4）分析时间:20-40秒（5）电子天平称量范围:0.001g~100g 次数用完API KEY 超过次数限制
近年来，随着国产直读光谱仪的飞速发展，在金属成分分析应用中运用的越来越广泛。但是，对于非常薄铝箔进行分析时存在一定的困难：分析样品在预燃激发时非常容易被击穿，在层叠预燃时又困于将其中滞留的空气赶跑，导致激发失败。因此利用直读光谱仪对铝箔样品进行分析，样品的制备是关键技术之一。
直读光谱分析仪具有分析速度快，准确度较高的特点，但对于碳、硅含量较高的铸铁特别是球铁的炉前分析，存在试样白口化及分析样品与标准样品的组织状态和组分之间存在的不完全一致问题。
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德国斯派克分析仪器公司SPECTRO全新研发的垂直同步双观测（DSOI）技术为提升ICP-OES的灵敏度提供了一种全新的解决方案。采用该技术解决了等离子体观测的核心问题，灵敏度是传统垂直观测等离子体仪器的数倍，性能价格比优异。
SPECTRO的垂直同步双观测（DSOI）方式，使用两个光学接口捕获来自垂直等离子体的发射光，使得微弱信号的检测能力大幅提升，同时又允许高浓度、重基体进样。进一步降低了记忆效应和污染风险。DSOI技术将传统垂直观测系统的灵敏度提高了数倍，避免了垂直双观测结构的复杂缺点和降低了用户使用成本。 次数用完API KEY 超过次数限制
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