光分路器原理
熔融拉锥型产品是将两根或多根光纤进行侧面熔接而成；平面波导型是微光学元件型产品，采用光刻技术，在介质或半导体基板上形成光波导，实现分支分配功能。这两种型式的分光原理类似，它们通过改变光纤间的消逝场相互耦合（耦合度，耦合长度）以及改变光纤纤半径来实现不同大小分支量，反之也可以将多路光信号合为一路信号叫做合成器。光通量是每单位时间到达、离开或通过曲面的光能量，单位瓦特每
光纤熔接机维修厂家
光分路器原理
熔融拉锥型产品是将两根或多根光纤进行侧面熔接而成；平面波导型是微光学元件型产品，采用光刻技术，在介质或半导体基板上形成光波导，实现分支分配功能。这两种型式的分光原理类似，它们通过改变光纤间的消逝场相互耦合（耦合度，耦合长度）以及改变光纤纤半径来实现不同大小分支量，反之也可以将多路光信号合为一路信号叫做合成器。光通量是每单位时间到达、离开或通过曲面的光能量，单位瓦特每平方米，即单位面积上的光功率，Φ=dW/ds。熔锥型光纤耦合器因制作方法简单、价格便宜、容易与外部光纤连接成为一整体，而且可以耐孚机械振动和温度变化等优点，目前成为市场的主流制造技术。
与同轴电缆传输系统一样，光网络系统也需要将光信号进行耦合、分支、分配，这就需要光分路器来实现。光分路器常用M×N来表示一个分路器有M个输入端和N个输出端。(4)然后用干净的干棉签擦去遗留的酒精（操作方法同上），观察显微镜镜片，确认其干净无赃物。在光纤CATV系统中使用的光分路器一般都是1×2、1×3以及由它们组成的1×N光分路器。
用于PON网络的光分路器按功率分配形成规格来看，光分路器可表示为M×N，也可表示为M：N。M表示输入光纤路数，N表示输出光纤路数。在FTTx系统中，M可为1或2，N可为2、4、8、16、32、64、128等。本标准统一用M×N表示。
高压电缆故障测试的基本步骤
电缆故障测试的基本步骤：一般来说，按以下步骤测试：
（1）、搞清楚故障产生的原因及电缆基本情况，例如是运行产生故障还是预试产生故障，是新电缆还是运行时间很长的电缆，电缆的大概长度，电缆中间有没有接头，电缆以前有没有出现过故障，电缆是直埋还是在电缆沟铺设，以及电缆类型等等。
（2）、一定要搞清楚，电缆两端必须与其它线路断开，确保电缆无电，电缆周围环境处于安全状态。
（3）、测试人员必须注意，每次与电缆接线前，将电缆各相线与地用短路线连接放电，放电时必须先将短路线一端接地，另一端分别接电缆各相线放电。对于其它电器，例如电容器，试验变压器等，接线及去掉连接线前也要注意先放电，后接线。826误码性能分析3、告警、误码直方图分析4、帧、时隙、信令分析5、音频测试。总之，要形成操作习惯，不怕麻烦，每次操作前，先注意操作电器有无与电路连接，先放电再操作。
（4）、测试时，先用闪测仪低压脉冲功能，对电缆各相分别进行全长测试，看三相对铠装测试时，测试波形是否一致。对大部分高阻故障，各相测试波形是一致的。在冬天，北方地区应特别注意0℃，可在暖房内充电但应避免高温源。对低阻故障以及存在断相故障的高阻故障，故障相测试波形与测试的电缆全长就不一致，这样就可以直接用低压脉冲测试出故障距离。
（5）、用高压闪络法测试时，不管电缆故障是高阻故障，还是低阻故障，均可用高压冲闪法进行测试。对于用低压脉冲能够直接测试出故障距离的低阻或断线故障，一般也要用高压冲闪进行验证测试及故障点的准确。
高压闪络法测试时，要注意，不管电缆是单相故障还是多相有故障，对一根故障相测试时，其它的电缆相线要与电缆铠装短路，以减少其它电缆的干扰，提高测试精度。
（6）、高压闪络法测试完毕，确定了故障距离，就可以进行故障准确。采用声磁同步仪时，故障与路径探测工作可以同步进行。
如何降低光纤熔接损耗
光缆架设按要求进行在光缆敷设施工中，严禁光缆打小圈及折、扭曲，3km的光缆必须80人以上施工，4km必须100人以上施工，并配备 6～8部对讲机；另外“前走后跟，光缆上肩”的放缆方法，能够有效地防止打背扣的发生。牵引力不超过光缆允许的80％，瞬间大牵引力不超过100％，牵引力应加在光缆的加强件上。该产品美观实用，使用轻巧，刀片持久，是不中断缆线的必备工具。敷设光缆应严格按光缆施工要求，从而低限度地降低光缆施工中光纤受损伤的几率，避免光纤芯受损伤导致的熔接损耗增大。
挑选经验丰富训练有素的光纤接续人员进行接续现在熔接大多是熔接机自动熔接，但接续人员的水平直接影响接续损耗的大小。接续人员应严格按照光纤熔接工艺流程图进行接续，并且熔接过程中应一边熔接一边用OTDR测试熔接点的接续损耗。检查显示器与主板连接线，可打开熔接机外壳，检查显示连接线是否插牢，如不正常，可外接显示器，检查判断是否为显示电路部分故障。不符合要求的应重新熔接，对熔接损耗值较大的点，反复熔接次数以3～4次为 宜，多根光纤熔接损耗都较大时，可剪除一段光
