X-RAY测厚仪特点
1，价格高，机种不同，价格在10万~100万左右，可测试P（磷）~U（铀），并且支持Rohs及元素分析功能等。
2，无损检测，Windows操作系统，使用简便。操作，能适应多类镀层，大量检测，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。
光谱膜厚仪
X-RAY测厚仪特点
1，价格高，机种不同，价格在10万~100万左右，可测试P（磷）~U（铀），并且支持Rohs及元素分析功能等。
2，无损检测，Windows操作系统，使用简便。操作，能适应多类镀层，大量检测，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。
3，测量厚度范围较广，
0.002um~100um左右，能测试5层以上膜厚，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。
4，测量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。
5，测头的面积较小，对需测的样品要求不高：0.1mmψ以下也可测量，基材厚度无要求。
6，可编程XYZ测量台及大移动范围。
江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪
下照式设计：可以方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
接收：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨：精准定位样品。
EFP算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
一六仪器 X荧光光谱测厚仪
镀层分析X射线荧光光谱特点
1.镀层分析、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。
2.可测试超薄的镀层。
3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。
4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。
5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。
6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别
7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。
8.可以对样品进行测试
9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样
江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 特点
：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为干扰因素，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
（作者： 来源：）
