3、技术指标
* 3.1 机台可测试器件类型 二极管、MOSFET、IGBT单管及模组
* 3.2 机台可测IGBT项目
及测试范围 VGE(th)栅极阈值电压
VCES集射极截止电压
ICES集射极截止电流
VCE(sat)饱和导通压降
Iges栅极漏电流
VF二极管导通电压
可以测5000V,1600A以下的IGBT模块
* 3.3 机台可测MOS项目 Vf、Vdsat、IGSS、Vgth、B
地铁IGBT测试仪批发
3、技术指标
* 3.1 机台可测试器件类型 二极管、MOSFET、IGBT单管及模组
* 3.2 机台可测IGBT项目
及测试范围 VGE(th)栅极阈值电压
VCES集射极截止电压
ICES集射极截止电流
VCE(sat)饱和导通压降
Iges栅极漏电流
VF二极管导通电压
可以测5000V,1600A以下的IGBT模块
* 3.3 机台可测MOS项目 Vf、Vdsat、IGSS、Vgth、BVdss、Rds(on)、Gfs
3.4
测试项目 测量范围 测试条件与精度
*
3.5 VGE(th)
栅极阈值电压 0.1~10V VGE:0.1~10V±1%±0.01V;
解析度:0.01V
集电极电流Ic:
10~50mA±1%±0.5mA;
50~200mA±1%±1mA;(2)主要技术参数
1)基本参数
功率源: 5000V1200A
2)栅极-发射极漏电流IGES
IGES: 0。
200~1000mA±1%±2mA;

5、感性负载
5.1 有效电感 L 100 200 500 1000 μH;
5.2 电流 Ic 1000 1000 1000 500 A;
外部电感成阵列的内部连接。(外部电感的H值传给PC,以计算电流源的极限,限制脉宽到1000us)。
6、标准的双控制极驱动
6.1 门极电阻可人工预先设定如:2.5Ω,5Ω,10Ω等;
6.2 开启(Trun-ON)输出电压 Vge+ : +15V;
6.3 关断(Trun-ON)输出电压 Vge- : -15V;
6.4 脉宽: 10 ~ 1000us (单脉冲、双脉冲总时间);
6.5 电压开关时间: < 50ns;
6.6 输出内阻: < 0.5Ω;

11)动态测试续流二极管
用于防止测试过程中的过电压。
压降小于1V
浪涌电流大于20kA
反向恢复时间小于2μs
工作温度 室温~40℃
工作湿度 <70%
12)安全工作区测试续流二极管
浪涌电流 大于20kA
反向恢复时间 小于2μS
工作湿度 <70%
13)被测器件旁路开关
被测安全接地开关,设备不运行时,被测接地。
电流能力 DC 50A
隔离耐压 15kV
响应时间 150ms
工作方式 气动控制
工作气压 0.4MPa
工作湿度 <70%

公司拥有一批长期从事自动控制与应用、计算技术与应用、微电子技术、电力电子技术方面的人才。公司装备精良,具有的检测手段,产品生产严格按照ISO9001∶2008标准质量管理体系运行,其、技术及工艺方面保持国内,部分产品达到国外同类产品的水平。本技术规范所使用的标准如遇与供货方所执行的标准不一致时,应按较高标准执行。
产品广泛应用于电力、冶金自动化、轨道交通、电力电子新能源开发等行业,部分产品出口到欧美等发达。

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