大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
真空镀铝膜在生产过程中很难控制好镀膜层厚度的均匀性，造成镀膜产量不过关，以至于镀膜不够好；而且生产效率低，往往需要投入较大成本。膜厚测试仪可解决这一问题。
椭圆偏光膜厚仪
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真空镀铝膜在生产过程中很难控制好镀膜层厚度的均匀性，造成镀膜产量不过关，以至于镀膜不够好；而且生产效率低，往往需要投入较大成本。膜厚测试仪可解决这一问题。
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影响膜厚仪测量的的客观因素
声速选择错误。测量工件前，根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正膜厚仪后（常用试块为钢）又去测量另一种材料时，将产生错误的结果。要求在测量定要正确识别材料，选择合适声速。
膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。
膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用的涂层测厚仪测量氧化层，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。
两者是只是根据材料有细微区别，不过现在使用者很多不了解，也相互称呼。
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