能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
能量色散X射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱，简称为延续潜或韧致辐射。
测厚仪厂家
能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
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稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
能量色散X射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱，简称为延续潜或韧致辐射。
另一方面，化学元素遭到高能光子或粒子的照耀，如内层电子被激起，则当外层电子跃迁时，就会出特征X射线。
能量色散X射线是一种别离的不延续谱.假如激起光源为x射线，则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征X射线显示了特征能量色散X射线荧光光谱仪发生的进程。
当人射x射线撞击原子中的电子时，如光子能量大于原子中的电子约束能，电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应，被打出的电子称为光电子。经过研讨光电子或光电效应可以取得关于原子构造和成键形态的信息。
江苏一六仪器有限公司 解决各种大小异形、多层多元素、重复镀层、轻元素、有机物及微小样品检测
什么是涂层测厚仪
什么是涂层测厚仪？不同类型的测厚仪，对应不一样的行业，适用范围也有所不同，那么我们在选购测厚仪时，就需要对特定的测厚仪有所了解，那么这次就先来了解下涂层测厚仪的概念。
涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
X射线荧光的基本原理
一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 保证
江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！
当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。比如,在轧制生产中,测量的钢板上可能会附着着水、油或者氧化物,这都会对X射线测厚仪的测量值造成影响,出现误差。
X射线的激发
如果要得到某元素的特征X射线，需要对元素原子内层电子进行激发，使得内层电子获得一定能量，能够脱离原子核的束缚，从而在内层轨道形成电子空穴，当较高能级电子填补这一空穴时，才会发射一定能量的特征X射线，这个过程就是X射线的激发。
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