同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
镀层测厚仪厂家
同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
测厚仪在实际检测工作中，经常碰到测厚仪示值与设计值(或预期值)相比，明显偏大或偏小，原因分析如下：
1、层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备)，测厚时要特别注意，测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。
2、声速选择错误。测量工件前，根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正仪器后(常用试块为钢)又去测量另一种材料时，将产生错误的结果。
磁性原理测厚仪可应用来测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。
g 磁场周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。h 附着物质本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。i 测头压力测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。j 测头的取向测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
（作者： 来源：）
