大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
什么是液晶分子预倾角以及液晶分子预倾角对电光特性的影响，说明了精准测量液晶分子预倾角对现有液晶显示器生产和进一步研究液晶显示技术有着重要的意义。紧接着文章对现有的液
大塚rets-100
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
什么是液晶分子预倾角以及液晶分子预倾角对电光特性的影响，说明了精准测量液晶分子预倾角对现有液晶显示器生产和进一步研究液晶显示技术有着重要的意义。紧接着文章对现有的液晶分子预倾角测量方法进行了概述，并且给出了几种性的测量方法。 晶体旋转法是目前广泛使用的方法，它测试精度高，测试速度快，得到人们的认可。
在相位差膜等光学膜中，要求有高透明性、低光弹性率、耐热性、耐光性、高表面硬度、高机械强度、大相位差、相位差的波长依存性小，以及相位差的入射角依存性小等特性。以往，作为表现透明树脂材料光学各向异性的方法，可以进行膜的拉伸配向。已知通过该拉伸配向，由聚甲i基丙i烯酸甲酯(P匿A)或聚乙烯(PS)所形成的膜显示出负双折射性，由聚^J吏酯(PC)或环烯烃类树脂(COP)所形成的膜显示出正双折射性。
相位差光学材料量
产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。
RETS-100闪电发货OTSUKA相位差/光学材料量测设备,日本大塚电子；
FPD相关的检查和评价设备：
动态画面反应时间检测仪：MPRT-2000,
相位差/光学材料量测设备：RETS-100,
发货OTSUKA,日本大塚电子液晶显示器LCD面板LCD-5200；
测定haze补正用样品（与被测定样品相同haze特性AG-TAC）,取得其补正table. 反复性能。(保证值)是利用本装置附属的基准样本(偏光板)的测量结果（0.1s间隔 15回连续测量）。将粘贴面有漏出的样品贴合与样品治具上，反转治具测定，玻璃上贴附样品的场合，将超出部分的film定位与基准面，只反转样品进行测定。因本系统为精密光学测定装置，作为设置场所，请考虑以下条件。
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