同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
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同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
由于涂镀层测厚仪（膜厚仪）使用频繁、工作环境等原因造成仪器测量时有故障，耽误生产请及时联系厂家维护
一：仪器不开机————
①请检查确认电池是否有电，或更换新的电池。
②请检查电池是否接触良好，且电极片没有氧化或生锈等-（如生锈—可用工具刮掉氧化层）
③请检查按键是否按压到位，且按键正常有弹性。
④其它主机线路故障------ 咨询公司售后服务或返厂检修
仪器不测量———
①检查探头是否连接良好，插到位--------- 查看探头插头插针情况
②检查探头线是否有断的地方--------- 重点检查探头接插件处（接头处可以旋钮拧开查看）
③探头频繁大量使用，传感器老化或损坏，等
④其它主机线路元件故障--------- 咨询公司售后服务或返厂检修
四：测量无数据变化————
①探头是否连接良好探头是否损坏等
②相关主机线路故障----------咨询公司售后服务或返厂检修
d 曲率不应在试件的弯曲表面上测量。e 读数次数通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。f 表面清洁度测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质d 曲率不应在试件的弯曲表面上测量。e 读数次数通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。f 表面清洁度测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质
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