相位差光学材料量
产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。
光学薄膜
相位差膜、椭圆膜、相位差板
偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、别的光学资料
■液晶层
穿透、半穿透型液晶层(TFT、TN、
RETS-100相位差膜测试
相位差光学材料量
产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。
光学薄膜
相位差膜、椭圆膜、相位差板
偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、别的光学资料
■液晶层
穿透、半穿透型液晶层(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、强诱电性液晶)
反射型液晶层(TN,STN)
用基准Sample实施设备，偏光prism unit的角度校正和基准Sample自身的Retardation测量。此外，反射用偏光子的角度校正可同时进行。
本装置是photonic结晶偏光子arrayh和CCD camera构成的偏光计测模组和透过偏光光学系相结合进行测定椭圆率，方位角、从偏光film.位相差film贴合品的两面之测定，进而演算其吸收轴，光轴，相对角、RE的装置。
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
偏光计测模组是用CCD camera的1shot来获取多角度的偏光强度pattern，因与以往的偏光计测装置相比，其无偏光子回旋机构，故其可维持其的测定及稳定的性能。
因本系统为精密光学测定装置，作为设置场所，请考虑以下条件。万一，下记条件未被满足的场合，本系统的性能有可能无法发挥其.请注意。
测定haze补正用样品（与被测定样品相同haze特性AG-TAC）,取得其补正table. 反复性能。(保证值)是利用本装置附属的基准样本(偏光板)的测量结果（0.1s间隔 15回连续测量）。将粘贴面有漏出的样品贴合与样品治具上，反转治具测定，玻璃上贴附样品的场合，将超出部分的film定位与基准面，只反转样品进行测定。因本系统为精密光学测定装置，作为设置场所，请考虑以下条件。
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