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江西测厚仪厂家 一六仪器有限公司

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。 测厚范围可测定厚度范围:取决于用户的具体应用。将列表可测定的厚度范围-基本分析功能无标样检量线测厚,可采用一点或多点标准样
测厚仪厂家








江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。




测厚范围可测定厚度范围:取决于用户的具体应用。将列表可测定的厚度范围-基本分析功能无标样检量线测厚,可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。根据客户本身应用提供必要的校正用标准样品。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、*工等制造领域。样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围:Ti22–U92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正组成分析时,可同时测定15种元素多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析-调整和校正功能系统自动调整和校正功能:校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响,自动消除系统漂移谱峰计数时,峰漂移自动校正功能谱峰死时间自动校正功能谱峰脉冲堆积自动剔除功能标准样品和实测样品间,密度校正功能谱峰重叠剥离和峰形拟合计算-测量自动化功能(要求XY程控机构)鼠标控制测量模式:'PointandShoot'多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能-样品台程控功能(要求XY程控机构)设定测量点OneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile测量位置预览




江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪


性能优势:

下照式设计:可以方便地定位对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。

微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。

jie shou 器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。

EFP算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。


统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、max值、min值、数据变动范围、CP、数据编号、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表直方图数据库存储功能

-系统安全监测功能Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师-任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析,如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析检测。




江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。江苏一六仪器X射线荧光光谱测厚仪一次性同时分析:23层镀层,24种元素厚度di检出限:0。稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

目前,金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析(GD-OES)和X射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层,逐层溶解并进行测定,方法准确但费时费力,尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂,价格又贵,属于典型破坏性样品检测,测量手段手段繁琐,速度慢,电解液耗损大,目般很少应用。GD-OES方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层,再用发射光谱测定,这种方法可实现剖面或逐层分析,但测量重复性并不理想。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。




江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)

厚度分析范围:各种元素及有机物

x射线荧光镀层测厚仪(国产)是一款针对金属电镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡等)厚度的,通过X荧光照射出产品,每个元素反射出的二次特征谱线,通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度,完全达到无损、分析的效果,产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业(铝平行管、电镀五金),连接器企业、开关企业等。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。

x射线荧光镀层测厚仪性能优势

采用高度定位激光,可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数


一次可同时分析多达五层镀层

度适应范围为15℃至30℃

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

分析含量一般为2ppm到99.9%











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