本底
“本底”是指在色谱载气中含有的被测杂质气体，配标准气用底气中含的被测杂质气；抗腐蚀性微电子生产中，经常使用一些腐蚀性很强的气体，这时必须采用耐腐蚀的管材，否则管道会被腐蚀，轻则表面产生锈斑，重则管道剥落、穿孔，不但污染气体，还会发生安全事故。测试系统（载气系统与样品气系统）带来的或被漏入的（以氧、氮为主）该杂质气。大多数浓度型检测器都要求本底值远小于它的l小检
高纯气体供应商
本底
“本底”是指在色谱载气中含有的被测杂质气体，配标准气用底气中含的被测杂质气；抗腐蚀性微电子生产中，经常使用一些腐蚀性很强的气体，这时必须采用耐腐蚀的管材，否则管道会被腐蚀，轻则表面产生锈斑，重则管道剥落、穿孔，不但污染气体，还会发生安全事故。测试系统（载气系统与样品气系统）带来的或被漏入的（以氧、氮为主）该杂质气。大多数浓度型检测器都要求本底值远小于它的l小检测浓度。当载气中本底值大于样品气中某杂质浓度时，该杂质气会出现“反峰”。配制标准气的底气要求就更严格了，否则本底值直接影响定量了。但是质量检测器（以火焰离子化检测器为主的）是例外。我们在检测氧中烃类杂质时发现，用纯氮气（4个“9”）作载气（氢气和空气相同），也能检测到0.1ppm的烃（一般国产色谱仪），乃至20—50ppm的烃杂质气。这是因为载气中的杂质（氧、氢、一氧化碳、二氧化碳FID上无响应，含量≤5ppm）因浓度不变，只能使检测器（FID）产生一个相应稳定的“基流”，只要基数平衡、噪声小，0.1ppm的烃类杂质气仍旧可以在基线上出一个峰。气相色谱定量规定，l小的检测峰的判定：l小的峰峰高值是二倍于噪声值。过去国产仪器只能检测0.1ppm的烃是因为仪器的总噪声值较高。只要将总噪声值下降一个数量级，则l小检测峰就会提高一个数量级。我公司的FID敏感度指标仍是Mt≤1×10-11g/s（正十六烷），和其它厂家的指标一样，但总噪声值低。因此，“氢焰型气相色谱仪只能检测与本底电流值相近”的说法是缺乏根据的。而我们再利用浓缩法，使烃中乙炔检测可以测到ppb级。
高纯氧气镁在高温下具有优良的耐碱性和电绝缘性，热膨胀系数和导热率高具有良好的光透过性，广泛用作高温耐热材料。在陶瓷领域用作透光性陶瓷坩埚、基板等的原料在电气材料、电气领域用于磁性装置填料、绝缘材料填料及各种载体。用作陶瓷基板比氧化铝导热率高2倍多，电解质的损失仅为氧化铝的1/10。亦可作高纯电熔镁砂的原料，在化学上可作为“分析纯”氧化镁。出气速率材料冶炼过程形成的管道材料晶间或者晶格内部存在着某些杂质，如氮、碳氢化合物等，在高纯气体输送过程中，这些杂质会缓慢地释放出来，污染高纯气体，尤其是杂质要求在ppb以上级的高纯气体。
由于氢气的危险特性，在贮存和使用氢气过程中必须注意防火防爆。
一、贮存和使用氢气的场所必须有良好的通风，而且通风口应设置在屋顶的l高部位，屋顶内平面要平整，不要凹凸不平，以防氢气在凹处积聚。在接近屋顶的上部不能有火源和电源，在设置电源时应尽量考虑布置在下方。所安装的电气设备应满足场所防火防爆的要求。在真空离子镀膜中，所选用不同气体所生产出来的产品色泽也会不一样。
二、输送氢气的设备和管路应有良好的接地，管路的法兰处应进行跨接。氢气在管道中输送时要严格控制流速，用气时，放气速度也不得过快，防止摩擦产生和积聚静电。
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