UV-PLUS专利光学系统：SPECTROLAB的光学系统集合了两种检测器的优势：光电倍增管和CCD检测器。采用了优化的帕邢——龙格架构，专利光学系统的机械结构异常坚固，同时减少了内部空间体积。直读光谱仪英文名为OES，20世纪80年代随着计算机和软件技术而飞速发展，主要通过测量样品被激发时发出代表各元素的特征光谱光（发射光谱）的强度而对样品进行定量分析的仪器，广泛应用于铸
直读光谱仪价格
UV-PLUS专利光学系统：SPECTROLAB的光学系统集合了两种检测器的优势：光电倍增管和CCD检测器。采用了优化的帕邢——龙格架构，专利光学系统的机械结构异常坚固，同时减少了内部空间体积。直读光谱仪英文名为OES，20世纪80年代随着计算机和软件技术而飞速发展，主要通过测量样品被激发时发出代表各元素的特征光谱光（发射光谱）的强度而对样品进行定量分析的仪器，广泛应用于铸造，钢铁，冶炼以及工、航天航空等诸多领域。内部恒温、恒压确保光学系统不受外界环境变化和影响。UV-PLUS专利技术用于保障远紫外光谱范围的测量。密封光室内部在仪器出厂前充入高纯气，保证远紫外光谱的透过率。光室内的气由分子薄膜泵驱动循环至净化装置，以保证内部气的高纯度。
近年来，随着国产直读光谱仪的飞速发展，在金属成分分析应用中运用的越来越广泛。近年来，随着国产直读光谱仪的飞速发展，在金属成分分析应用中运用的越来越广泛。但是，对于非常薄铝箔进行分析时存在一定的困难：分析样品在预燃激发时非常容易被击穿，在层叠预燃时又困于将其中滞留的空气赶跑，导致激发失败。因此利用直读光谱仪对铝箔样品进行分析，样品的制备是关键技术之一。
直读光谱分析仪具有分析速度快，准确度较高的特点，但对于碳、硅含量较高的铸铁特别是球铁的炉前分析，存在试样白口化及分析样品与标准样品的组织状态和组分之间存在的不完全一致问题。
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直读光谱仪可用于铸造、锻造、机械配件、装备制造、质检、高校教学培训等领域。
在直读光谱仪分析过程中，采用高稳定的激发光源,激发频率在150—500Hz之间变化,分析不同的样品,可选择不同的激发参数,可达到佳的分析效果。
直读光谱仪中有关第三元素影响的问题
谱线干扰:由于试样组分复杂，所选元素的分析线直接受试样中其它组分发射谱线的影响，这种影响又称为光谱干扰。基体。-出色的易用性，操作轻松——简化的操作界面通过工具栏按钮提供清晰的选项。简单的说，样品中除了少量存在的待测物之外，还有大量的其他物质，这就是基体。基体效应。实验证明，当被测元素的浓度一定时，分析元素谱线的绝强度及相对强度值不仅决定于蒸发、激发等摄谱条件，而且与试样总组成有关。试样总组成对谱线强度的影响称为第三元素的影响。第三元素是指除了内标和分析元素以外而存在于试样中的元素，这种影响有时称为基体效应。 次数用完API KEY 超过次数限制
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