同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
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同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
1. 测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍；2. 精度高 ：本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上唯壹能达到的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高；3. 稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品；4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法。
使用仪器时应当遵守的规定a 基体金属特性对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。b 基体金属厚度检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。c 边缘效应不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。d 曲率不应在试件的弯曲表面上测量。e 读数次数
对矿产开发的狂热渐渐消退，商人们开始清醒地认识到：找矿和开矿是一项极具风险的投资，大多数民营企业并不具有开发大型矿藏和承担风险的实力。但很多大型国有企业，依然渐次挺进蒙古国，如神华集团、中铝集团、有色金属[0.06 0.00%]集团等。
2006年之后，这种趋势愈发明显，国企参与蒙古国矿产开发，渐渐成为主流，而中小民营企业，则在其他行业寻找商机。蒙古国，也乐于鼓励商人向更多的行业投资。找矿无果，赵巨荣果断转变方向，由矿产转向房地产。房地产随即成为除矿产之外，投资者第二个投资热点。
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