碳硅仪是建立在温度测试的基础上，在温度测试中，环境温度和热分析仪内部温度对测试结果的影响不容忽视，环境温度和热分析仪内部温度变化不定会严重器的正常工作或使仪器测试精度急剧下降，造成测试数据偏离真值，甚至会造成测试失败。解决环境温度和热分析仪内部温度变化对碳硅仪的影响的问题，我们采取以下几项措施：1.采用温度传感器对环境温度进行测量，碳硅仪测量数据送至微型计算机进行环境温度的实时
碳硅分析仪厂家
碳硅仪是建立在温度测试的基础上，在温度测试中，环境温度和热分析仪内部温度对测试结果的影响不容忽视，环境温度和热分析仪内部温度变化不定会严重器的正常工作或使仪器测试精度急剧下降，造成测试数据偏离真值，甚至会造成测试失败。
解决环境温度和热分析仪内部温度变化对碳硅仪的影响的问题，我们采取以下几项措施：
1.采用温度传感器对环境温度进行测量，碳硅仪测量数据送至微型计算机进行环境温度的实时补偿。
2.在供电电源上采用低压差集成式电源，此类电源，功耗低，发热量极微。
3.碳硅仪优化电路结构，采用低功耗大规模集成芯片，减少芯片数量，使电路消耗功率成数量级的降低。
4.减少显示器的数量，显示器数量的增加虽然方便观察测试数据，但显示器的耗电量不容忽视，会造成供电电源负荷增加，使仪器内部温度大大高于环境温度，也会造成仪器内部温度不均衡，增加温度补偿难度，造成测试精度下降。
碳硅分析仪在灰铁质量控制中的作用：灰铁的缩松风险度
灰铁凝固的外壳内，当初生奥氏体和次生奥氏体的凝固连续起来以后，剩余的共晶铁水被封闭在各个局部的空间内。局部空间内的降温体积收缩将造成铸件的缩松缺陷。
减小缩松风险的方法与减小型壁移动风险的方法是一致的，减小型壁移动风险度的同时即减小了缩松的风险度。问题的关键是要使用热分析测量和动态孕育技术，测量出再辉段的石墨生成量【S1】和再辉后的石墨生成量【S2】，计算出补充喂入孕育丝的准确量，才能将型壁移动的风险度和缩松的风险度很小化。
碳硅分析仪活性镁含量与核心量的控制
铁水蠕化完成后，取样进行活性镁含量和过冷度的热分析测量。
发现活性镁含量过高或核心量过多时，应在浇注温度许可的范围内增加铁水的静置时间，使活性镁含量烧损降低、使铁水的型核能力减少。
发现活性镁含量或核心量不足时，按炉前碳硅分析仪的测量结果计算镁包芯线补充量或孕育剂芯线补充量，启动喂丝机定量补足活性镁和铁水的核心量。
炉前碳硅分析仪分析程序
1、打开炉前碳硅分析仪电源，综合显示器显示“Err”表明仪器测量工作还没有准备好。应连接好信号电缆，装入样杯后，“Err”消失，绿色指示灯亮，表时仪器测量准备工作完成。
2、将多功能开关置“测量”位置，然后将原铁水浇入样杯中（浇满为止，不要溢出）。仪器开始测量铁水温度，（此时面板上绿色和黄色指示灯亮）当温度值大于1100度后测定过程开始，当铁水温度小于1050度或者测定过程中已经找到了两个温度平台（TL和TS）时，温度测定过程结束，仪器进行成分计算，并将成分测定结果在碳、硅显示屏上显示出来。（此时，而板上绿色和红色指示灯亮，并发出声响，表明一次测量结束）。
3、在测试现场一般干扰程度的情况下，仪器可在120秒内计算出成分测定结果，如果干扰严重或者铁水是净共晶成分附近时，仪器测定时间可能需要180秒左右。
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