一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用
1．一般要求
使用可靠的参考标准块校准仪器。后的测量不确定度直接
测厚仪
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用
1．一般要求
使用可靠的参考标准块校准仪器。后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。
参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。
金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。
2．标准块的选择
可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。
3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用
校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射（或吸收）特性。
如果厚度由X射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，然后通过软件达到对仪器的校正。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。
波长色散型X射线荧光光谱仪的前面部分和能量色散型X射线荧光光谱仪是一样的，X光管激发样品，检测器测量来自样品的射线，但波长色散型X射线荧光光谱仪的检测器和能量色散型X射线荧光光谱仪的检测器不同。利用XRF无损分析技术检测镀层厚度的仪器就叫X射线测厚仪，又膜厚测试仪，镀层检测仪，XRF测厚仪，PCB镀层测厚仪，金属镀层测厚仪等。波长色散型X射线荧光光谱仪的计策系统由一套准直器，衍射晶体和探测器组成，来自样品的特征谱线照射到镜头上，晶体将不同波长(能量)的谱线衍射到不同的方向，（相当于棱镜将复合光分解成不同的单色光），将检测器放置在一定的角度，就可测量某一波长的谱线强度。将分光晶体和探测器装在测角仪上，使它在一定角度范围内转动，一次测量不同波长长谱线的强度，使用这种形式的光谱仪称为顺序扫描式光谱仪。安装固定检测系统的称为同时式光谱仪，每一套检测系统都有自己的晶体和探测器，分别测量某一特定元素的谱线，各谱线的强度同时被测量，这就很容易理解为什么称它为固定道波长色散型光谱仪，另外也有固定式和转动式结合的仪器。X射线波长色散型光谱仪一般有光源（X-射线管）、样品室
分光晶体和检测系统等组成。
江苏一六仪器一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。一六仪器测厚仪多道脉冲分析采集,EFP算法X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
x射线荧光膜厚测厚仪还应用于五金电镀厚度检测，首饰电镀厚度检测，电子连接件表层厚度检测，电镀液含量分析。②、X、Y轴水平移动方式水平移动方式一般分为：无X、Y轴移动装置。电力行业高压开关柜用铜镀银件厚度检测，铜镀锡件厚度检测，航空材料金属镀层厚度检测。铜箔镀层厚度检测，光伏行业焊带铜镀锡铅合金厚度检测，铁镀铬 镀锌 镀镍厚度检测等。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪应用领域
集成电路是国民经济首要突破的行业，现代制造业的发展，集成电路是基础。江苏一六仪器X荧光光谱测厚仪特点：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。如果保证电路板生产的质量，电镀检测重中之重！x射线荧光膜厚测厚仪为集成电路的发展，PCB线路板加工业的质量保驾护航。价格一直是客户在购买时关心的问题，好质量和售后服务的产品在价格上面往往比较高，所以客户在选择产品时选择的就需要一定的了解，首先是，其次是客户调查，售后服务等。x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试，镀锡测试。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚，PCB线路板的镀银厚度分析。 的详细信息x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试，镀锡测试。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚，PCB线路板的镀银厚度分析。
x射线荧光膜厚测厚仪已经成为电力行业，PCB行业，首饰行业的镀层分析的常规手段，比传统的电解法测厚仪具有更快的测试速度和分析精度，也比切片法具有更快的分析效率。
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