封装测试设备之BGA球珊阵列式封装技术
BGA球珊阵列式封装技术关系到产品的功能性,当IC的频率超过100MHz时,传统封装方式可能会产生所谓的“Cross Talk(串扰)”现象,而且当IC的管脚数大于208pin时,传统封装方式有其困难度,因此,除使用PQFP封装方式外,现今大多数的高脚数芯片(如图形芯片与芯片组等)皆转而使用BGA(Ball Grid Array Pack
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封装测试设备之BGA球珊阵列式封装技术
BGA球珊阵列式封装技术关系到产品的功能性,当IC的频率超过100MHz时,传统封装方式可能会产生所谓的“Cross Talk(串扰)”现象,而且当IC的管脚数大于208pin时,传统封装方式有其困难度,因此,除使用PQFP封装方式外,现今大多数的高脚数芯片(如图形芯片与芯片组等)皆转而使用BGA(Ball Grid Array Package)封装方式。BGA一出现便成为CPU、主板上南/北桥芯片等高密度、、多引脚封装的选择。3D晶圆封装测试徕森正在加速相关技术的部署,期望能在明年开始在芯片封装领域展开竞争。
晶圆级封装分类:
晶圆级封装方案是直接将裸片直接焊接在主板上,晶圆级封装主要分为扇入型封装和扇出型封装两种。扇入型封装是在晶圆片未切割前完成封装工序,即先封装后切割。因此,裸片封装后与裸片本身的尺寸相同。封装技术的特征是封装小型化、模型化、高密度和高可靠,主要用于计算和通信领域的逻辑器件和存储芯片的封测,进一步渗透到移动领域的模拟和射频市场,成长空间大,是未来技术发展的主要方向。扇出型封装是先在人造模压晶圆片上重构每颗裸片,“新”晶圆片是加工RDL布线层的基板,然后按照普通扇入型晶圆级封装后工序,完成后的封装流程。
在TSOP封装方式中,内存颗粒是通过芯片引脚焊在PCB板上的,焊点和PCB板的接触面积较小,使得芯片向PCB板传热相对困难。而且TSOP封装方式的内存在超过150MHz后,会有很大的信号干扰和电磁干扰。人们对芯片级封装还没有一个统一的定义,有的公司将封装本体面积与芯片面积之比小于2的定为CSP,而有的公司将封装本体面积与芯片面积之比小于1.4或1.2的定为CSP。开发应用为广泛的是FBGA和QFN等,主要用于内存和逻辑器件。设计、制造、甚至测试本身,都会带来一定的失效,保证设计处理的芯片达到设计目标,保证制造出来的芯片达到要求的良率,确保测试本身的质量和有效。CSP的引脚数还不可能太多,从几十到一百多。这种高密度、小巧、扁薄的封装非常适用于设计小巧的掌上型消费类电子装置。

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