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蔡司三坐标测量机

作为一款通用型测量工具，SPECTRUM沿袭了ZEISS成熟的测量设计理念，进行合理的软硬件搭配，造就了产品的质量

重要特征：

1、超硬铝制部件保证了整体桥架结构的长期稳定性

2、采用零膨胀玻璃陶瓷材料光栅尺，大大降低了温度变化对测量结果的不利影响

3、高度集成的动态C99控制柜，保证了测量过程的稳定

4、双操纵杆数字式控制面板，人体工学设计，操作简便，内嵌LED显示，信息丰富

扫描测头

扫描测头在进行单点触发采点时，其工作方式与触发式测头有很大的区别。触发式测头的采点是在测头触发开始时发生的;而扫描测头则是采用模拟信号转换的方式，其单个采点是在测头触发结束、测针离开物体表面时发生的。这两种不同的采点方式造成的显而易见的区别就是触发测头采点速度显著高于扫描测头。触发测头的采点给人的感觉是“一碰即退”，而扫描测头采点则是测针碰到工件后，会短暂粘滞在工件表面，然后缓慢回退至离开工件表面。

三轴联动与五轴联动

当下个零件摆放到工作台上，但其姿态方位与个零件不一致时，之前的测头角度可能会不再适用。因此，在做批量测量时，我们对于零件的位置、姿态方位都有一定程度的要求。而对于五轴系统，这方面的要求会宽松得多，测头的无级分度特性使得测头能够根据零件坐标系的找正作出相应调整，避免了出现测头角度不适用的情形。

接触式测头与光学测头

对于表面数字化，其目的是要获取零件表面轮廓，这就需要大量获取轮廓的空间点坐标。而对于接触式测头来说，一个一个点逐次获取的方式是无法胜任百万数量级点数的要求的，哪怕是连续扫描测头，也只是通过测头不离开零件表面的方式来提高取点速度，本质上还是单点采集。这类应用当中，线光源和面光源测头就很好弥补了接触式测头的不足，线扫描测头通过一条由若干点的激光在工件表面移动，即可扫描出一片区域;而面拍照测头则是通过一组编码的光线栅格，一次性获取一个特定大小区域内的点云。