蔡司 CONTURA 从容应对各种挑战--无论现在还是未来
ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，在大批量复杂零部件的生产过程中，获得清晰的测量结果至关重要。关键时刻，测量结果更须确凿无疑。来自蔡司的工业测量技术保证了高水平的质量控制。 ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，固定平台桥式机体设计，融合的DL
三坐标蔡司测量仪代理
蔡司 CONTURA 从容应对各种挑战--无论现在还是未来
ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，在大批量复杂零部件的生产过程中，获得清晰的测量结果至关重要。关键时刻，测量结果更须确凿无疑。来自蔡司的工业测量技术保证了高水平的质量控制。 ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，固定平台桥式机体设计，融合的DLC钻石涂层材质横梁和Z轴结构，结合机器移动时高稳定设计，兼之扫描测头系统及众多技术优势，确保了系统的精度及动态性能；同时，高刚性结构提高了系统对于环境的抗干扰性能及长久的稳定性。
蔡司三坐标测量机
常见的三坐标测量设备
按测量方式分类(测头)︰分接触式测量和非接触式测量
按测量机的结构分类(机械坐标系统)可以概括为悬臂式、台式、桥式、龙门式、关节臂式。
悬臂式、台式、桥式、龙门式均采用直线光棚进行测量，结构上均有3个明显的轴向运动部件。可手动也可自动进行测量。
关节臂式（便携式）采用圆形光栅进行测量。结构上类似人类的手臂，具有3个(或更多）“关节”。因其结构小巧，只能手动测量。
触发测头与扫描测头
其实要考察触发测头与扫描测头两者之间的区别，需要从测量任务的特点来着手进行。众所周知，三坐标测量机能够进行从尺寸到形位公差的测量，属于通用型检测设备。但是其中，单一的尺寸测量，如长度、直径、角度等，基本都可以通过简单的量具来测量，三坐标并无不可代替的显著优势;而行为公差的测量则牵涉到诸多方面，如测量基准、拟合方式、测量原则等，必须依靠三坐标测量机作为一个系统性的整体来进行，这也是三坐标测量机具有不能替代性的主要原因。
接触式测头与光学测头
对于表面数字化，其目的是要获取零件表面轮廓，这就需要大量获取轮廓的空间点坐标。而对于接触式测头来说，一个一个点逐次获取的方式是无法胜任百万数量级点数的要求的，哪怕是连续扫描测头，也只是通过测头不离开零件表面的方式来提高取点速度，本质上还是单点采集。这类应用当中，线光源和面光源测头就很好弥补了接触式测头的不足，线扫描测头通过一条由若干点的激光在工件表面移动，即可扫描出一片区域;而面拍照测头则是通过一组编码的光线栅格，一次性获取一个特定大小区域内的点云。
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