螺旋测微器的注意事项:螺旋测微器的注意事项：1、测量时，注意要在测微螺杆快靠近被测物体时应停止使用旋钮，而改用微调旋钮，避免产生过大的压力，既可使测量结果，又能保护螺旋测微器。2、在读数时，要注意固定刻度尺上表示半毫米的刻线是否已经露出。 3、读数时，千分位有一位估读数字，不能随便扔掉，即使固定刻度的零点正好与可动刻度的某一刻度线对齐，千分位上也应读取为“0”。 4、当小砧和测微螺
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螺旋测微器的注意事项:
螺旋测微器的注意事项：
1、测量时，注意要在测微螺杆快靠近被测物体时应停止使用旋钮，而改用微调旋钮，避免产生过大的压力，既可使测量结果，又能保护螺旋测微器。
2、在读数时，要注意固定刻度尺上表示半毫米的刻线是否已经露出。
3、读数时，千分位有一位估读数字，不能随便扔掉，即使固定刻度的零点正好与可动刻度的某一刻度线对齐，千分位上也应读取为“0”。
4、当小砧和测微螺杆并拢时，可动刻度的零点与固定刻度的零点不相重合，将出现零误差，应加以修正，即在后测长度的读数上去掉零误差的数值。
游标卡尺的基本发展过程
游标卡尺的基本发展过程如下：
现代测量价值的游标卡尺一般认为是由法国人约尼尔·比尔发明的。他是一名数学家，在他的专著《新四分圆的结构、利用及特性》中记述了游标卡尺的结构和原理，而他的名字Vernier变成了英文的游标一词沿用至今。1851年由美国Brown & Sharpe 公司将Nonuth 及 Vernier 两个构想制造出支游标卡尺，后由德国Masuer兵工厂加以改良制造，是工程上应用广的量具。1854年荷、法、德、英、都普遍用上了游标卡尺。1856年日本也普及了游标卡尺，游标卡尺的制造技术逐渐更新迅速提高，使之成为了通用性的长度。19世纪中叶，美国机械工业发展，美国夏普机械有限公司创始人与1985年秋，成功加工出了世界上批四把0-4英寸的游标卡尺，其精度达到了0.001毫米。
测量力是影响卡尺测量准确度的重要因素
测量力是影响卡尺测量准确度的重要因素。在移动量爪和被测工件接触时，不允许过分施加压力，所用压力不能太大，也不能太小，仅仅使两量爪刚好接触工件表面，此时量爪还能沿着工件表面自由滑动，但是不能松动、跌落的手感。有微动装置的，应使用微动装置来调节接触的松紧程度。如果测量力过大，将会造成：
1.量爪弯曲或磨损；
2.量爪在压力作用下产生弹性变形，使测得的尺寸不准确，外尺寸小于实际尺寸，而内尺寸大于实际尺寸。
3.容易压伤工件表面。
当弓形架变形后测杆工作面仍与测杆轴线垂直
当碰撞或跌落造成弓形架变形而引起平行度超差时(判断的方法是工作面的表面粗糙度、平面度很好，但用四个平行平晶检平行度时四次的平行度都大大超差)，再用一般方法修复平行度就很费时力了。我们知道，平行度合格的外径千分尺其两工作面均与测杆轴线垂直，当弓形架变形后测杆工作面仍与测杆轴线垂直，但固定测砧的工作面则与测杆轴线不垂直了。因此，修复的途径有两种，种是用敲击法(上下变形)或台钳(左右变形)校正变形的弓形架；第二种是调整固定测砧的位置，使其工作面与测杆轴线垂直。方法是固定测砧打出来，然后用圆锉把与其配合的孔略锉大些，使固定测砧能在孔内上下左右进行径向偏摆调整，用任一平行平晶进行平行度检定，用手在径向调整固定测砧位置，通过平行平晶观察两工作面的平行度，待调整至平行度合格后用胶水固定测砧即可。用本方法一般都能使平行度修复至2 微米以内。如果由于用胶水固定时位置发生轻微变化导致平行度略微超差，则可将研磨器与测微螺杆工作面接触的一面涂上润滑油，只在与固定测砧面接触的一面涂研磨剂进行研磨就可以很快修复。
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