扫描电子显微镜的样品制备扫描电子显微镜的样品制备
块样
对于金属、岩矿或者无机物，切割成要求的尺寸，粘在样品台上。假如样品数量很多的话，那么就要注意样品尺寸的一致性。
微区成分分析样品表面应该平台或者通过研磨抛光，能够确保检测的时候几何条件不变。对于样品的断口面，要选择起伏不大的部位，好是分析点附近有小的平坦区。样品表面与底面应该平行。
非导电或者导
天津透射电镜测试价格
扫描电子显微镜的样品制备
扫描电子显微镜的样品制备
块样
对于金属、岩矿或者无机物，切割成要求的尺寸，粘在样品台上。假如样品数量很多的话，那么就要注意样品尺寸的一致性。
微区成分分析样品表面应该平台或者通过研磨抛光，能够确保检测的时候几何条件不变。对于样品的断口面，要选择起伏不大的部位，好是分析点附近有小的平坦区。样品表面与底面应该平行。
非导电或者导电性较差的材料，要行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜。为了避免电荷积累，影响图像，并且可以防止试样的热损伤。
扫描电镜和透射电镜的区别
扫描电镜和透射电镜的工作原理
从相似点开始, 这两种设备都使用电子来获取样品的图像。他们的主要组成部分是相同的;
· 电子源;
· 电磁和静电透镜控制电子束的形状和轨迹;
现在转向这两种设备的差异性。 扫描电镜（SEM）使用一组特定的线圈以光栅样式扫描样品并收集散射的电子（ 详细了解SEM中检测到的不同类型的电子 ）。
而透射电镜（TEM）是使用透射电子，收集透过样品的电子。 因此，透射电镜（TEM）提供了样品的内部结构，如晶体结构，形态和应力状态信息，而扫描电镜（SEM）则提供了样品表面及其组成的信息。
扫描电镜基本操作
需要熟悉的扫描电镜基本操作
基本操作包括熟练的调节对焦和消像散。对焦相对容易，改变焦距，直至图像清楚的时刻即为合焦。在偏离焦距较多的时候可以用较高的灵敏度，在合焦点附近调低灵敏度，以便进行准确对焦。
基本操作中消像散相对来说比较麻烦，特别是像散很大时，对于很多初学者来说调节比较困难。不过前面已经介绍了像散的产生，电子束由于不再是圆形，所以在像散未消除的情况下，图像是不清晰的。不过其中有两个特殊的位置，即光学中的子午和弧矢，在这两个位置上束斑完全成正交的直线。而明晰圆一般在弧矢和子午的中间。
有关拉伸方向的判断并不困难，试样中的各种特征点都可以作为判断依据，尤其在像散比较大时，不要焦距和像散的两个维度乱调一气，以免像散过大而完全无从判断。
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