Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美军标和 JEDEC 标准.
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的. 发表了
元器件失效分析公司
Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美军标和 JEDEC 标准.
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.
主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IGBT，IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。
Phase 热阻测试仪主要特点
1.提供符合MIL&JEDEC的标准测试环境
2.提供Rja、Rjb、Rjc、热阻参数
3.高可提供200A，4000W电源系统
4.可测试各种封装类型的热阻
5.可测试元器件的稳态及瞬态热阻
6.可对芯片焊接进行筛选评估
三、优点
1.增强瞬态测试能力
2.较高的数据和处理速度
3.单独为改善无障碍改造或修理
4.兼容所有现有的分析技术的夹具
5.紧凑的设计
超声波检测（UT）超声波检测原理：通过超声波与试件相互作用，就反射、透射和散射的波进行研究，对试件进行宏观缺陷检测、几何特性测量、组织结构和力学性能变化的检测和表征，并进而对其特定应用性进行评价的技术。适用于金属、非金属和复合材料等多种试件的无损检测；可对较大厚度范围内的试件内部缺陷进行检测。如对金属材料，可检测厚度为1～2mm的薄壁管材和板材，也可检测几米长的钢锻件；而且缺陷定位较准确，对面积型缺陷的检出率较高；灵敏度高，可检测试件内部尺寸很小的缺陷；并且检测成本低、速度快，设备轻便，对人体及环境无害，现场使用较方便。但其对具有复杂形状或不规则外形的试件进行超声检测有困难；并且缺陷的位置、取向和形状以及材质和晶粒度都对检测结果有一定影响，检测结果也无直接见证记录。
泄漏检测技术参数及优势编辑 语音强大的检测灵敏度：可以检测到距离70英尺(约20米)，压力0.03兆帕，0.1大小的泄漏点，任何环境下增益的可调节范围从50直到110，可调频率范围从34至46，甚至能够检测到小的泄漏，供电方式：锂离子电池具有的操作时间为6小时，工作温度范围：10°+50°，配置：主机耳机电池充电器，线，软件数据线说明书。
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