光学影像测量仪检测是一种常见测量技术，通过提供了量化的图像测量方式，获得测量数据，从而对零部件公差尺寸进行把控，是机械、电子制造业，计量测试所广泛使用的一种多用途计量仪器。
影像测量仪的误差来源有哪些呢？ （1）光栅尺记数的偏差; （2）操作台挪动时存有的平行度、角摆产生的偏差; （3）操作台两精l确测量轴平整度带的偏差; （4）摄像镜头直线光轴与操作台不垂直带的偏差;
表面光学表面形貌仪
光学影像测量仪检测是一种常见测量技术，通过提供了量化的图像测量方式，获得测量数据，从而对零部件公差尺寸进行把控，是机械、电子制造业，计量测试所广泛使用的一种多用途计量仪器。
影像测量仪的误差来源有哪些呢？ （1）光栅尺记数的偏差; （2）操作台挪动时存有的平行度、角摆产生的偏差; （3）操作台两精
l确测量轴平整度带的偏差; （4）摄像镜头直线光轴与操作台不垂直带的偏差; （5）精
l确测量工作温度转变产生的偏差; （6）灯源照明灯具标准的转变产生的自动对焦和指向偏差。
便携式光学三维表面形貌测量仪测量大件样品的优势
携式光学三维表面形貌测量系统是专门针对轧辊、车身等大型物体的测量而开发的，重量仅有5.5公斤。该表面测量系统可携带到现场并且在几分钟内即可准备完毕投入使用。由于集成自动对焦功能，其也可以胜任沿轧辊径向的大范围测量。
应用于产线的便携式三维测量技术
基于稳定的NanoFocus技术，便携式三维测量系统即使在恶劣的生产环境下也可以使用。MarSurf CM mobile测量速度很快，典型三维测量时间只需5-10秒。由于这些特点，该系统非常适用于部署在整个产业链。
配置和选项
随着半导体技术的电子技术工艺的发展，电子产品都往小型化，轻薄化发展。iWatch的一经推出，穿戴电子产品成为了一个新的电子设备应用潮流。随着电子产品的小型化，器件体积越做越小，空间就紧凑起来，这对器件加工尺寸及工艺的容差要求就越来越高。
这款仪器采用非接触式线光谱共焦扫描技术，能够高
l精度还原产品的3D结构，对肉眼不可见的结构缺陷都能准确检测。因为具有较快的扫描速度，微米级别的精度和超
l强的稳定性，一经推出立马成为精密生产商的新宠。在精密铸件、精密点胶、3D玻璃，半导体缺陷检测和多层光学薄膜厚度检测，就是这款产品的主要应用领域。
一、三维表面形貌仪测量原理：低相干白光同时照射样品和参考平面，被样品和参考平面反射的两束白光发生干涉后由阵列式CMOS探测器接收，由于探测器直接与信号处理芯片（Smart Pixel技术）连接，所以阵列上每个像素点的信号都在芯片中完成锁相放大，背景信号补偿和结果计算输出，成像于计算机就实现了样品表面的三维形貌测量。 二、三维表面形貌仪技术特点： 1、每秒一百万张二维图像 2、无损表面形貌检测和分析 3、在线/离线检测 4、模块化设计，超高集成灵活性 5、无需苛刻的工作环境（振动，噪声，温度等） 6、可应用于科研和工业领域
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