封装设备测试的原因：
成本的考量。越早发现失效，越能减少无谓的浪费；在AI/ML、HPC、数据中心、CIS、MEMS/传感器中进行3D堆叠。设计和制造的冗余度越高，越能提供终产品的良率；同时，如果能得到更多的有意义的测试数据，也能反过来提供给设计和制造端有用的信息，从而使得后者有效地分析失效模式，改善设计和制造良率。从而提供给客户符合产品规范的、质量合格的产品，这些都要求必须在
ic封装测试厂
封装设备测试的原因：
成本的考量。越早发现失效，越能减少无谓的浪费；在AI/ML、HPC、数据中心、CIS、MEMS/传感器中进行3D堆叠。设计和制造的冗余度越高，越能提供终产品的良率；同时，如果能得到更多的有意义的测试数据，也能反过来提供给设计和制造端有用的信息，从而使得后者有效地分析失效模式，改善设计和制造良率。从而提供给客户符合产品规范的、质量合格的产品，这些都要求必须在设计开始的就要考虑测试方案。
封装测试的分类和流程：
封装测试的分类方式有多种，如以封装组合中芯片数目为依据可以分为单芯片封装和多芯片封装;以材料为依据可以分为高分子材料类和陶瓷类;以器件和电路板连接方式为依据可以分为引脚插入型和表面贴装型;以引脚分别为依据可以分为单边引脚、双边引脚、四边引脚、底部引脚等。封装测试时在进行后段工艺（EOL），对独立的晶片用塑料外壳加以封装保护、塑封，以及后固化、切筋和成型、电镀以及打印等工艺。封装完成后进行成品测试，后入库出货。5D/3D堆叠IC、嵌入式芯片，Fan-Out：分别为21%、18%和16%。
几年之前封装本体面积与芯片面积之比通常都是几倍到几十倍，但近几年来有些公司在BGA、TSOP的基础上加以改进而使得封装本体面积与芯片面积之比逐步减小到接近1的水平，所以就在原来的封装名称下冠以芯片级封装以用来区别以前的封装。PWB两面可以形成不同的电路，采用整体回流焊等方式可使两面上搭载的全部元器件一次键合完成，便于自动化操作，实装的可靠性也有保证。这是普遍采用的封装形式。封装完成后进行成品测试，通常经过入检、测试和包装等工序，后入库出货。封装过程中会遇到的问题及解决措施：
为防止在封装工序和/或可靠性测试过程中曼延，必须控制切割工序在裸片边缘产生的裂缝。典型的封装工艺流程为：划片 装片 键合 塑封 去飞边 电镀 打印 切筋和成型 外观检查 成品测试 包装出货。
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