大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
根据测量原理，涂层厚度计通常有五种类型：
1、磁性厚度测量：适用于测量磁性材料上非磁性层的厚度。一般来说，磁性材料是沧州瓯钢、铁、银和镍。
2、
大塚MCPD
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
根据测量原理，涂层厚度计通常有五种类型：
1、磁性厚度测量：适用于测量磁性材料上非磁性层的厚度。一般来说，磁性材料是沧州瓯钢、铁、银和镍。
2、涡流厚度测量：适用于测量导电金属上的非导电层的厚度。这种方法比磁厚度测量精度低。
3、超声波厚度测量：目前国内尚没有用这种方法测量涂层厚度。国外一些厂家也有这种仪器，多层涂敷厚度测量的应用是上述两种方法无法测量的情况。但一般价格昂贵，测量精度不高。
4、电解厚度测量方法：此方法不同于上述三种，不属于NDT，需要破坏涂层。一般精度不高。
膜厚测量仪校准方式
仪器校满度
1.根据待测涂层的厚度，选择合适的标准膜片进行全刻度标定。
2.首先，将标准膜片放置在铁基体上（或者没有涂层测量体）。
3.然后按测量探头在标准的隔膜，与测量值显示。如果测量值不同于标准膜片，则可以通过添加1或负1个键来校正测量值。当进行校正时，必须抬起探头。否则，按1键或减少1键。
4.为了保证校准的精度，可以通过重复测量同一标准膜片来验证。
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