蔡司 CONTURA 从容应对各种挑战--无论现在还是未来
ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，在大批量复杂零部件的生产过程中，获得清晰的测量结果至关重要。关键时刻，测量结果更须确凿无疑。来自蔡司的工业测量技术保证了高水平的质量控制。 ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，固定平台桥式机体设计，融合的DL
zeiss蔡司三坐标供应
蔡司 CONTURA 从容应对各种挑战--无论现在还是未来
ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，在大批量复杂零部件的生产过程中，获得清晰的测量结果至关重要。关键时刻，测量结果更须确凿无疑。来自蔡司的工业测量技术保证了高水平的质量控制。 ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，固定平台桥式机体设计，融合的DLC钻石涂层材质横梁和Z轴结构，结合机器移动时高稳定设计，兼之扫描测头系统及众多技术优势，确保了系统的精度及动态性能；同时，高刚性结构提高了系统对于环境的抗干扰性能及长久的稳定性。
蔡司三坐标测量机
如何选择测量设备
选用测量设备按照以下顾序挑选:
1、精度达到要求:通常测量设备的测量不确定度应是零件公差指标的三至十分之一.
2、测量范围:设备各方向的测量长度应大于被测距离，且不能有测量死角。
3、测量环境:温度、湿度、粉尘、震动等环境因素应能保证设备达到其标称测量不确定度。
4、测量速度和效率:前面三个要求均能保证的前提下，采用速度和效率很高的设备。对于需要大量监控的零部件，尽量采用编程自动测量，同时对测量的重复性要进行检查(CMC）。
接触式测头与光学测头
近年来流行着一些带有误导性的宣传，导致部分用户对光学测头有过高的期待，例如“用光学测头一扫，零件的所有尺寸都出来了”等等，这对光学测头实际上存在很大的误解。从目前的状态来说，接触式与光学测头之间主要是相互补充的关系，而非竞争。三维光学测头有不同的分类，比如点光源、线光源、面光源，不同的测头其应用场合有显著区别。我们将光学测头的应用大致分成两类：表面数字化和三维测量。
三坐标测量仪在齿轮测量应用及优势
针对于齿轮的要求和变速噪音要求越来越高。要达到、噪音的双重目标，这就要求进行精度更高的齿轮加工及质检要求。所有我们研发人员开发出于齿轮测量三坐标测量仪，下面详细三坐标测量机在齿轮测量应用及优势
一般在生产齿轮及对成品齿轮检测过程中常见的测量元素有齿槽、端面、法面、齿顶圆、齿根圆、基圆、分度圆（在端面内计算齿轮几何尺寸的基准圆，对于直齿轮，在分度圆上模数和压力角均为标准值）、齿面、齿廓（齿面被一曲面所截的截线）、齿线、端面齿距pt（相邻两同侧端面齿廓之间的分度圆弧长）、模数m（齿距除以圆周率π所得到的商,以毫米计）、径节p（模数的倒数，以英寸计）、齿厚s（在端面上一个轮齿两侧齿廓之间的分度圆弧长）、槽宽e （在端面上一个齿槽的两侧齿廓之间的分度圆弧长）、齿顶ɑ（齿顶圆与分度圆之间的径向距离）、齿根f（分度圆与齿根圆之间的径向距离）、全齿（齿顶圆与齿根圆之间的径向距离）、齿宽b（轮齿沿轴向的尺寸）、端面压力角 ɑt等等。
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