天津zeiss蔡司三坐标价格常用解决方案「多图」

蔡司三坐标测量机

触发测头与扫描测头

其实要考察触发测头与扫描测头两者之间的区别，需要从测量任务的特点来着手进行。众所周知，三坐标测量机能够进行从尺寸到形位公差的测量，属于通用型检测设备。但是其中，单一的尺寸测量，如长度、直径、角度等，基本都可以通过简单的量具来测量，三坐标并无不可代替的显著优势;而行为公差的测量则牵涉到诸多方面，如测量基准、拟合方式、测量原则等，必须依靠三坐标测量机作为一个系统性的整体来进行，这也是三坐标测量机具有不能替代性的主要原因。

顾名思义，形位公差实际上包含了两类不同的元素特征评价内容，一类是形状公差、另一类是位置公差。形状公差共包含直线度、平面度、圆度、圆柱度、线轮廓度和面轮廓度;而位置公差共包含平行度、垂直度、倾斜度、位置度、同心度、同轴度和对称度。另外，还有一类特殊的形位公差称作跳动，包括径向/端面圆跳动和径向/端面全跳动。跳动从实质上来说,也是评价被测元素的形状误差，因此我们不妨将其也归入形状误差一类。

接触式测头与光学测头

近年来流行着一些带有误导性的宣传，导致部分用户对光学测头有过高的期待，例如“用光学测头一扫，零件的所有尺寸都出来了”等等，这对光学测头实际上存在很大的误解。从目前的状态来说，接触式与光学测头之间主要是相互补充的关系，而非竞争。三维光学测头有不同的分类，比如点光源、线光源、面光源，不同的测头其应用场合有显著区别。我们将光学测头的应用大致分成两类：表面数字化和三维测量。